该器件具有内置测试图形发生器，可简化 LVDS 输出的调试和/或校准。测试图形发生器位于 DDC 之后，如图 7-63 所示。

启用测试图形发生器（0x14A 中的寄存器 <TEST PATTERN>）会替换所有电流输出数据样本、正常 ADC 或抽取数据。所有通道的测试图形都相同。测试图形块生成 20 位测试图形，图形由 <TEST PATTERN> 字段的值控制。

在抽取中，测试图形块默认采用抽取的时钟运行，并且可以通过设置寄存器 0x14A 的 <PATTERN CLK> 字段切换到采用 FS 时钟运行。无法在低延迟工作模式下启用测试图形功能。

以下寄存器写入可用于配置步长为 1 且输出分辨率为 16 位的斜坡图形。