ZHCSX40 September 2024 ADC3669
PRODUCTION DATA
参数 | 测试条件 | 最小值 | 标称值 | 最大值 | 单位 | |
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ADC 时序规格 | ||||||
TAD | 孔径延迟 | 200 | ps | |||
TA | 孔径抖动 | 75 | fs | |||
CER | 误码率 | FS = 500MSPS,错误 > 64 个代码 | 1E-10 | 错误/样本 | ||
FS = 500MSPS,错误 > 128 个代码 | 3E-13 | |||||
FS = 250MSPS,错误 > 64 个代码 | 1E-11 | |||||
唤醒时间 | 退出全局断电模式后数据有效的时间(内部电压基准关闭) | 3 | ms | |||
延迟:tPD + tADC + tDIG | ||||||
tPD | 传播延迟:采样时钟下降沿到 DCLK 上升沿 | 传播延迟:采样时钟下降沿到 DCLK 上升沿 | 1.4 + TS/4 | 1.7 + TS/4 | 2 + TS/4 | ns |
tADC | ADC 延迟 | DDR LVDS,正常模式 | 38 | ADC 时钟周期 | ||
DDR LVDS,低延迟模式 | 4 | |||||
时间戳:输入至 LVDS 输出 | DDR LVDS | 8 | ||||
tDIG | 数字延迟:接口和抽取 | DDC 旁路 | 5 | 输出时钟周期 | ||
/2 抽取(实数或复数) | 24 | |||||
/4、/8 抽取(实数或复数) | 49 | |||||
/16.../32768 抽取(实数或复数) | 50 | |||||
串行编程接口(SCLK、SEN、SDIO)- 输入 | ||||||
fCLK(SCLK) | 串行时钟频率 | 1 | 20 | MHz | ||
tSLOADS | SEN 下降沿到 SCLK 上升沿的建立时间 | 10 | ns | |||
tSLOADH | SCLK 上升沿至 SEN 下降沿的保持时间 | 10 | ns | |||
tDSU | SDIO 至 SCLK 上升沿的建立时间 | 10 | ns | |||
tDH | SCLK 上升沿至 SDIO 的保持时间 | 10 | ns | |||
串行编程接口 (SDIO) - 输出 | ||||||
t(OZD) | SDIO 三态到被驱动 | 10 | ns | |||
t(ODZ) | SDIO 数据到三态 | 14 | ns | |||
t(OD) | 从 SCLK 的下降沿到 SDIO 有效 | 10 | ns | |||
时序:SYSREF | ||||||
ts(SYSREF) | 建立时间:SYSREF 有效至 CLKP/M 上升沿 | 100 | ps | |||
th(SYSREF) | 保持时间:CLKP/M 上升沿至 SYSREF 无效 | 100 | ps | |||
接口时序:DDR 和 SLVDS | ||||||
tDV | 数据有效时间:数据转换到 DCLK 转换 | FS = 500MSPS | 0.465 | 0.68 | 0.905 | ns |
FS = 250MSPS | 0.905 | 1.16 | 1.415 | ns | ||
tDI | 数据无效时间:DCLK 转换到数据转换 | FS = 500MSPS | 0.095 | 0.32 | 0.535 | ns |
FS = 250MSPS | 0.615 | 0.84 | 1.065 | ns |