存储器内置自检 (MBIST) 可以验证用于 FIFO 缓冲器的静态随机存取存储器 (SRAM) 的有效性。MBIST 在启动后可以控制 SRAM 模块，直到完成。

在 MBIST 运行时应禁用 HART 通信。在 MBIST 期间与 FIFO 缓冲器的通信会导致结果不可靠。GEN_STATUS.MBIST_DONE 和 GEN_STATUS.MBIST_FAIL 这两个状态位可用于监控自检成功完成还是失败，或用于创建 IRQ 事件。

请勿尝试在 MBIST 运行时读回 GEN_STATUS 寄存器。MBIST 控制逻辑会为 MBIST_DONE 和 MBIST_FAIL 状态标志生成窄脉冲。如果这些脉冲在 GEN_STATUS 寄存器回读期间出现，则可能会丢失这些状态标志。为避免丢失 MBIST_DONE 标志，请屏蔽除 GEN_STATUS_MASK.MBIST_DONE 之外的所有状态位，然后执行以下任一操作：

1. 监控是否有 IRQ 事件，或
2. 定期发送一个 NOP 并检查 GEN_IRQ 状态位。

等待直到报告 MBIST_DONE，验证 MBIST_FAIL 标志的状态，然后恢复正常运行。