ZHCSNU9G April 2021 – May 2024 AM2431 , AM2432 , AM2434
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
下表提供了在特定结温下持续运行器件的估算 POH 数据。
温度 额定值 |
温度范围 | 结 温 (TJ)(1) |
估算(2) 寿命 (POH)(3) |
---|---|---|---|
A | -40°C 至 105°C | 105°C | 100000 |
I | -40°C 至 125°C | 105°C | 100000 |
110°C | 64000 | ||
115°C | 41000 | ||
120°C | 26500 | ||
125°C | 17500 |
本应用报告介绍了如何计算 TI 嵌入式处理器 (EP) 在电子系统中运行时的有效使用寿命。本文档的目标读者为希望确定 TI EP 器件的可靠性是否符合终端系统可靠性要求的总工程师。电迁移是建模的主要故障机制。
本应用报告提供了将 AM243x 器件的运行寿命从 100k 上电小时数 (POH) 延长至 200k POH 的指南。
TI 在 TI 网站上提供了详细的质量和可靠性部分,其中讨论了所有 TI 器件(包括 AM243x 处理器)的质量和可靠性,网址为 http://www.ti.com/quality。