ZHCSPB8C December 2021 – October 2024 BQ77207
PRODUCTION DATA
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 过压保护 (OV) | ||||||
| VOV | OV 检测范围 | 3.55 | 5.1 | V | ||
| VOV_STEP | OV 检测步骤 | 25 | mV | |||
| VOV_HYS | OV 检测迟滞 | 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 | VOV - 50 | mV | ||
| 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 | VOV - 100 | mV | ||||
| VOV_ACC | OV 检测精度 | TA = 25°C |
-10 | 10 | mV | |
| OV 检测精度 | 0°C ≤ TA ≤ 60°C |
-20 | 20 | mV | ||
| OV 检测精度 | -40°C ≤ TA ≤ 110°C |
-50 | 50 | mV | ||
| 欠压保护 (UV) | ||||||
| VUV | UV 检测范围 | 1.0 | 3.5 | V | ||
| VUV_STEP | UV 检测步骤 | 50 | mV | |||
| VUV_HYS | UV 检测迟滞 | 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 | VUV + 50 | mV | ||
| 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 | VUV + 100 | mV | ||||
| VUV_ACC | UV 检测精度 | TA = 25°C | -30 | 30 | mV | |
| UV 检测精度 | -40 ≤ TA ≤ 110°C | -50 | 50 | mV | ||
| VUV_MIN | UV 检测禁用阈值 | Vn - Vn-1（其中 n = 2 至 7）和 V1 - VSS | 450 | 500 | 550 | mV |
| 过热保护 (OT) | ||||||
| TOT | OT 检测范围 | 可用选项：62°C、65°C、70°C、75°C、80°C、83°C | 62.0 | 83.0 | °C | |
| ROT_EXT_NTC | NTC OT 检测外部电阻 | 2850 | Ω | |||
| 2570 | ||||||
| 2195 | ||||||
| 1915 | ||||||
| 1651 | ||||||
| 1525 | ||||||
| ROT_EXT_PTC | PTC OT 检测外部电阻 | 111100 | Ω | |||
| TOT_ACC(1) | OT 检测精度 (NTC) | -5 | 5 | °C | ||
| TOT_HYS(2) | OT 检测迟滞 (NTC) | -10 | °C | |||
| 4186 | Ω | |||||
| 3530 | Ω | |||||
| RTC | 内部上拉电阻器 | TI 出厂修整后 | 19.4 | 20 | 20.6 | kΩ |
| 欠温保护 (UT) | ||||||
| TUT | UT 检测阈值 | -30.0 | 0.0 | °C | ||
| RUT_EXT_NTC | NTC UT 检测外部电阻 | 111100 | Ω | |||
| 68900 | ||||||
| 42200 | ||||||
| 26700 | ||||||
| RUT_ACC | UT 检测外部电阻精度 | -2% | 2% | |||
| TUT_HYS | UT 检测迟滞 (NTC) | 10 | °C | |||
| 17800 | Ω | |||||
| TUT_ACC(1) | UT 检测精度 (NTC) | -5 | 5 | °C | ||
| 开路保护 (OW) | ||||||
| VOW | OW 检测阈值 | Vn < Vn-1，其中 n = 2 至 7 | -200 | mV | ||
| V1 - VSS | 500 | mV | ||||
| VOW_HYS | OW 检测迟滞 | Vn < Vn-1，其中 n = 1 至 7 | VOW +100 | mV | ||
| VOW_ACC | OW 检测精度 | -40℃ ≤ TA ≤ 110℃ | -25 | 25 | mV | |
| 电源和漏电流 | ||||||
| ICC | 电源电流 | 未检测到故障。 | 2 | 3.5 | µA | |
| ICC_FAULT | 电源电流 | 检测到故障，COUT 高电平有效 6V 输出，DOUT 低电平有效。其他故障 | 20 | 25 | µA | |
| ICC_FAULT | 电源电流 | 检测到故障，COUT 高电平有效 6V 输出，DOUT 低电平有效。仅 UV 故障 | 3 | 5 | µA | |
| IIN(2) | Vx 引脚处的输入电流 | Vn - Vn-1 和 V1 - VSS = 4V，其中 n = 2 至 7，启用开路 | -0.3 | 0.3 | µA | |
| Vn - Vn-1 和 V1 - VSS = 4V，其中 n = 2 至 7，禁用开路 | -0.1 | 0.1 | µA | |||
| 输出驱动，COUT 和 DOUT，仅限 CMOS 高电平有效版本 | ||||||
| VOUT_AH | COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V | Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 | 6 | V | ||
| COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 VDD | VDD - VCOUT 或 VDOUT，Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，IOH = 10µA，通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 | 0 | 1 | 1.5 | V | |
| COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V | VDD - VCOUT 或 VDOUT，如果 7 个电芯中的 6 个短路，只有一个电芯保持供电且 > VOV，VDD = Vx（电芯电压），IOH = 100µA， | 0 | 1 | 1.5 | V | |
| COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V 和 VDD | Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流入引脚的电流测得 | 250 | 400 | mV | ||
| ROUT_AH | 内部上拉电阻器 | 80 | 100 | 120 | kΩ | |
| IOUT_AH_H | OUT 拉电流（OV 期间） | Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = 0V。通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得 | 6.5 | mA | ||
| IOUT_AH_L | OUT 灌电流（无 OV） | Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得 | 0.3 | 3 | mA | |
| 输出驱动，COUT 和 DOUT，仅限 NCH 开漏低电平有效版本 | ||||||
| VOUT_AL | COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，低电平有效 | Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 | 250 | 400 | mV | |
| IOUT_AL_L | OUT 拉电流（OV 期间） | Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 | 0.3 | 3 | mA | |
| IOUT_AL_H | OUT 灌电流（无 OV） | Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 | 100 | nA | ||