可以通过开启均衡 FET 并比较 FET 两端的电压（通过 AUX ADC 路径）与电芯电压（通过主 ADC 路径）来执行电芯均衡 FET 检查。要读取用于检查的 AUXCELL 测量值，MCU 必须使用 [AUX_CELL_SEL] 设置将该诊断检查设置为锁定在单个通道上，然后启动该诊断检查。AUXCELL 比较值将报告给 DIAG_AUX_HI/LO 寄存器。

图 8-50 电芯均衡 FET 诊断

在开始电芯均衡 FET 比较之前，主机确保：

• 主 ADC 以连续模式运行。
• 在 ADC_CTRL2[AUX_CELL_SEL4:0] 中进行配置，以选择测试 CB FET 的 AUXCELL 通道。
• 通过 ADC_CONF1[AUX_SETTLE1:0] 为 AUX CELL 通道选择所需的稳定时间。
• 如果均衡正在运行，则暂停 CB。
• 通过 DIAG_CBFET_CTRL1 和 DIAG_CBFET_CTRL2 寄存器配置要测试的 CBFET。
  • 最多开启 8 个 CBFET 以及开启不超过两个连续 CBFET 的规则仍然适用。
  • 建议以奇数和偶数方式进行测试。

要开始 CBFET 比较，请执行以下操作：

1. 以连续模式启动 AUX ADC。
2. 通过设置 DIAG_COMP_CTRL3[CBFET_CTRL_GO] = 1 开启选定的 CBFET 并等待适当的 dv/dt 时间。
3. 设置 DIAG_COMP_CTRL3[COMP_ADC_SEL2:0] = CBFET 检查（即 0b100）并设置 [COMP_ADC_GO] = 1。
4. 器件开启上一步中配置的 CBFET，并比较 AUXCELL 测量值（通过 CB 通道）是否小于 VCELL 测量值（通过 VC 通道）的一半。仅会检查已启用的 CBFET。
5. 当 ADC_STAT2[DRDY_CBFET] = 1 时，CBFET 比较完成。
6. 对其他 CBFET 测试设置重复该过程。为了关闭为该测试启用的 CBFET，MCU 清除 DIAG_CBFET1 和 DIAG_CBFET2 寄存器，然后设置 [CBFET_CTRL_GO] = 1。否则，通过发送 [CB_PAUSE] = 0 退出 CB 暂停状态将恢复常规均衡，从而关闭为该测试启用的 CBFET 并在为均衡设置的 CBFET 上恢复。

主机检查 FAULT_COMP_CBFET1 和 FAULT_COMP_CBFET2 寄存器以获得比较结果。重复这些步骤以比较剩余的 CBFET。

ADC 比较中止条件：

在下面列出的无效条件下，器件不会启动 CBFET 比较。当比较中止时，FAULT_COMP_MISC[COMP_ADC_ABORT] = 1，[DRDY_AUX_CEL] = 1，[DRDY_CBFET] = 1，并且 FAULT_COMP_CBFET1/2 = 0xFF。如果 [AUX_CELL_SEL4:0] 设置为锁定在单个通道上，则在比较运行中止时 AUX_CELL_HI/LO 寄存器将被重置为默认值 0x8000。

会阻止开始电芯电压测量比较的无效条件或设置：

• 无效 [AUX_CELL_SEL] 设置，导致所选通道上没有 AUX ADC 测量。AUX_CELL_HI/LO 寄存器保持默认值。
• 选择了高于 NUM_CELL 配置的通道。
• 无效的 BBVC_POSN 设置：
  • 在 BBVC_POSN1/2 寄存器中启用了相邻通道。
  • 启用了 BBVC_POSN2[CELL1]。
  • 在 BBVC_POSN1/2 中选择了两个以上的通道。
  • [AUX_CELL_SEL] 被锁定到 BBVC_POSN1/2 中所选的任意通道。
• 主 ADC 或 AUX ADC 关闭或未设置为连续模式。
• CB 正在运行且未处于暂停模式。
• 在 DIAG_CBFET_CTRL1/2 寄存器中启用 8 个以上的 CBFET，或启用两个以上的连续 CBFET。