一个时隙（CB MUX 输出时隙）在 AUX ADC 轮询周期中分配给 CB 通道（差分 CB_n–1 – CB_n，其中 n = 1 至 16）和 BB（差分 BBP – BBN） 通道测量，因为这些通道被多路复用为 AUX ADC 多路复用器的单个输入。对于单个 CB 或 BB 通道测量，由于该器件还必须等待 AAF 稳定时间，因此该器件需要多个轮询周期。

由于需要等待 AAF 稳定，AUX ADC 只会测量由 MCU 选择的活动 CB 和 BB 通道；非活动或未选择的通道会被跳过。

活动 CB 通道由 ACTIVE_CELL[NUM_CELL3:0] 设置决定。这些位设置最高的活动通道编号。例如，当 14S 连接到器件时，MCU 将 ACTIVE_CELL[NUM_CELL3:0] 设置为 14S，器件假设 CB 通道 1 至 14 处于活动状态；CB 通道 15 和 16 处于非活动状态，将被 AUX ADC 跳过。

MCU 可以控制通过 AUX ADC 测量哪些 CB 和 BB 通道。ADC_CTRL2[AUX_CELL_SEL4:0] 提供了轮询所有活动 CB 通道和 BB 通道或锁定至单个 CB 通道或锁定至 BB 通道的选项。图 8-10 展示了如何使用不同的 [AUX_CELL_SEL4:0] 设置实现 AUXCELL 时隙的示例。

建议在连续模式下运行 AUX ADC，使用 AUX ADC 对所有活动 CB 通道进行一次测量。这使得器件能够减少 AUX ADC 测量中的共模误差。MCU 应在运行与 ADC 比较相关的诊断或锁定到单个 CB 或 BB 通道测量之前执行该过程。

AUX ADC 路径中没有后 ADC LPF。如果在诊断期间使用 AUX ADC 测量，则会将 AUX CELL（CB 通道）测量值与主 ADC 预滤波测量值进行比较。当器件在内部执行 VCELL（来自主 ADC）和 AUX CELL（来自 AUX ADC）测量比较时，AUX BB 比较由主机执行。有关更多详细信息，请参阅节 8.3.6.4。

当 [AUX_CELL_SEL4:0] 位被设置为锁定在单个 CB（必须处于活动状态）或 BB 通道上时，器件使 CB 或 BB 通道测量进入只读状态。测量结果在 AUX_CELL_HI（高字节）和 AUX_CELL_LO（低字节）寄存器中报告。结果寄存器将在 AAF 稳定时间之后更新。对于任何其他情况（包括锁定到非活动 CB 通道），结果寄存器将保留默认值 0x8000。

图 8-10 具有不同 [AUX_CELL_SEL4:0] 设置的 CB 多路复用器输出时隙