电芯电压测量路径比较：

通过比较主 ADC 的预滤波测量结果与 AUX ADC 的测量结果来执行电芯电压测量检查。要读取主 ADC 和 AUX ADC 测量的比较值，MCU 必须使用 [AUX_CELL_SEL] 设置将该诊断检查设置为锁定在单个通道上，然后启动该诊断检查。在该配置中，主 ADC 和 AUX ADC 的比较值将分别报告给 DIAG_MAIN_HI/LO 寄存器和 DIAG_AUX_HI/LO 寄存器。

主 ADC 和 AUX ADC 具有相同的前端滤波器。该诊断时间主要用于等待 AUX ADC 路径上的 AAF 稳定。[AUX_SETTLE] 设置使 MCU 能够在诊断时间和噪声滤波水平之间进行权衡。此外，当 AUX ADC 启动时，默认情况下，AUXCELL 时隙始终与主 ADC Cell1 时隙对齐。[AUX_CELL_ALIGN] 设置使 MCU 能够更改与主 ADC Cell8 时隙的对齐方式，从而减少较高通道上主 ADC 和 AUX ADC 之间的采样时间差值。

图 8-47 电芯电压测量诊断

在开始电芯电压测量比较之前，主机确保：

• 在 ADC_CTRL2[AUX_CELL_SEL4:0] 设置中配置所需的待测试 AUXCELL 通道，并且 AUX ADC 被启用并处于连续模式。
• 在开始该诊断检查之前，允许 AUX ADC 运行器件的所有 AUXCELL 通道，以补偿共模误差。
• 主 ADC 必须启用并处于连续模式。
• 通过 DIAG_COMP_CTRL1[VCCB_THR4:0] 设置选择 (VCELL – AUXCELL) 比较阈值。
• 通过 ADC_CONF1[AUX_SETTLE1:0]为 AUX CELL 通道选择所需的稳定时间。

要开始电芯电压测量比较，请执行以下操作：

1. 设置 DIAG_COMP_CTRL3[COMP_ADC_SEL2:0] = 电芯电压测量检查（即 0b001）并设置 [COMP_ADC_GO] = 1。
2. 对于 [AUX_CELL_SEL4:0] 启用的每个通道，器件将比较 abs[(VCELL – AUXCELL)] < [VCCB_THR4:0]。
3. 等待比较完成，时间大致为 [（通道数）*（AUXCELL 稳定时间 + 一轮循环时间）]。
4. 当 ADC_STAT2[DRDY_VCCB] = 1 时，电芯电压测量比较完成。

主机检查 FAULT_COMP_VCCB1 和 FAULT_COMP_VCCB2 寄存器以获得比较结果。

ADC 比较中止条件：

在下面列出的无效条件下，器件不会启动电芯电压测量比较。当比较中止时，FAULT_COMP_MISC[COMP_ADC_ABORT] = 1，[DRDY_AUX_CEL] = 1，[DRDY_VCCB] = 1，并且 FAULT_COMP_VCCB1/2 寄存器 = 0xFF。如果 [AUX_CELL_SEL4:0] 设置为锁定在单个通道上，则在比较运行中止时 AUX_CELL_HI/LO 寄存器将被重置为默认值 0x8000。

会阻止开始电芯电压测量比较的无效条件或设置：

• 无效 [AUX_CELL_SEL] 设置：导致所选通道上没有 AUX ADC 测量。AUX_CELL_HI/LO 寄存器保持默认值。
• 选择了高于 NUM_CELL 配置的通道。
• 无效的 BBVC_POSN 设置：
  • 在 BBVC_POSN1/2 寄存器中启用了相邻通道。
  • 启用了 BBVC_POSN2[CELL1]。
  • 在 BBVC_POSN1/2 中选择了两个以上的通道。
  • [AUX_CELL_SEL] 被锁定到 BBVC_POSN1/2 中所选的任意通道。
• 主 ADC 或 AUX ADC 关闭或未设置为连续模式。

后 ADC 数字 LPF 检查：

只要主 ADC 在运行，就会连续检查数字 LPF。实施重复的诊断 LPF 来检查每个 VC 通道和 BBP/N 通道的每个 LPF。一次对一个 LPF 执行检查。

例如，要测试电芯通道 1 的 LPF1，输入（即电芯 1 的 ADC 测量结果）会馈送到 LPF1 和诊断 LPF 一段时间。LPF1 和诊断 LPF 的输出相互比较。将比较 LPF1 和诊断 LPF 的多个输出，以确保 LFP1 的运行，然后再检查下一个 LFP。如果任何 LPF 未能通过诊断检查，则 FAULT_COMP_MISC[LPF_FAIL] = 1。

当每个活动电芯通道的 LPF 被测试一次时，ADC_STAT2[DRDY_LPF] = 1。只要主 ADC 在运行，LPF 的诊断检查就会在后台持续运行。

图 8-48 后 ADC LPF 诊断（蓝色路径是检查 LPF1 的示例）

此外，器件还执行检查以验证诊断 LPF 本身的功能。通过设置 DIAG_COMP_CTRL4[LPF_FAULT_INJ] = 1 并重新启动主 ADC，器件将向诊断 LPF 注入故障，从而在 LPF 诊断检查期间强制发生故障，然后设置 [LPF_FAIL] = 1。测试完成后，只需设置 [LPF_FAULT_INJ] = 0。