ZHCSRX7 june 2023 BQ79616
PRODUCTION DATA
地址 | 0x033C | |||||||
RW | 位 7 | 位 6 | 位 5 | 位 4 | 位 3 | 位 2 | 位 1 | 位 0 |
名称 | 被保留 | CBFET_CTRL_GO | OW_SNK[1:0] | COMP_ADC_SEL[2:0] | COMP_ADC _GO | |||
复位 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
RSVD = | 被保留 | |||||||
CBFET_CTRL_GO = | 当该 GO 位 = 1 时,器件开启所配置的 CBFET,并关闭 DIAG_CBFET_CTRL1/2 寄存器中清除的任何 CBFET。仅当 CB 未运行或处于暂停状态时才会执行此 GO 操作,否则,CBFET 由常规 CB 控制进行控制。 如果 CBFET 通过该 GO 位开启,一旦 CB 启动或恢复,CBFET 控制将返回到常规 CB 控制(而不是通过该 GO 位操作) | |||||||
OW_SNK[1:0] = | 开启 VC 引脚、CB 引脚或 BBP/N 引脚上的电流阱。对这些位所做的更改将立即生效。主机 MCU 负责在执行开路 (OW) 测试之前开启正确的灌电流,并在 OW 测试完成后关闭灌电流。 00 = 所有 VC,BBP/N,CB 引脚灌电流关闭。 01 = 开启所有 VC 引脚上的灌电流 10 = 开启所有 CB 引脚上的灌电流 11 = 开启 BBP/N 引脚上的灌电流 | |||||||
COMP_ADC_SEL[2:0] = | 支持通过 ADC 测量进行器件诊断比较。在启用此诊断之前,主机以连续模式启用相应的 ADC。当 [COMP_ADC_GO] = 1 时,将对这些位进行采样。 000 = 不执行 ADC 比较 001 = 电芯电压测量检查。 器件将根据以下标准比较 [AUX_CELL_SEL4:0] 指定的电芯通道: VCELL(来自主 ADC)与 AUXCELL(来自 AUX ADC)的差值小于 [VCCB_THR4:0]。 当比较完成时,[DRDY_VCCB] = 1。 010 = VC 引脚上的开路 (OW) 检查。 在启用此比较之前,MCU 通过 [OW_SNK1:0] 启用所有 VC 引脚上的电流阱。器件将根据以下标准比较由 ACTIVE_CELL 寄存器指定的相应 VC 引脚:VCELL(来自主 ADC)小于 DIAG_COMP_CTRL2 [OW_THR3:0]。 比较完成时,[DRDY_VC_OW] = 1。 011 = CB 引脚上的开路 (OW) 检查 在启用此比较之前,MCU 通过 [OW_SNK1:0] 启用所有 VC 引脚上的电流阱。器件将根据以下标准比较由 [AUX_CELL_SEL4:0] 指定的相应 CB 引脚:AUXCELL(来自 AUX ADC)小于 DIAG_COMP_CTRL2 [OW_THR3:0]。当比较完成时,[DRDY_CBOW] = 1。 100 = CBFET 检查。 在开始此检查之前,MCU 预先配置以下内容:
AUXCELL(来自 AUX ADC)< VCELL 的 1/3(来自主 ADC)。比较完成时,[DRDY_CBFET] = 1。 101 = GPIO 测量检查(适用于配置为 ADC 和 OTUT 输入或仅 ADC 输入的 GPIO)。 器件将主 GPIO 测量值与 AUX GPIO 测量值进行比较,差值小于 [GPIO_THR2:0]。当比较完成时,[DRDY_GPIO] = 1。 其他代码:不进行 ADC 比较 | |||||||
COMP_ADC_GO = | 器件启动由 [COMP_ADC_SEL2:0] 设置指定的诊断测试。当该位写入 1 时,将对所选的 [COMP_ADC_SEL2:0] 进行采样。除非再次将该 GO 位写入 1,否则更改 [COMP_ADC_SEL2:0] 设置不会产生任何影响。 该位在读取时清零。 0 = 就绪。写入 0 无效 1 = [COMP_ADC_SEL2:0] 选择的星型诊断 |