该器件可以检测 VC 和 CB 引脚上的开路连接。每个 VC 和 CB 引脚均连接了一个电流阱，但 VC0 和 CB0 引脚除外，这些引脚连接了电流源。

当电流阱（或电流源）启用并且存在开路连接时，外部差分电容器将耗尽，电芯电压测量值将随着时间的推移下降到异常水平。类似的检测概念适用于带有电流源的 VC0 和 CB0 引脚。如果存在开路连接，VC0 或 CB0 将被电流源上拉，从而使电芯电压测量值随着时间的推移而降低。

启用诊断比较后，器件会将来自主 ADC 的电池电压测量值（用于 VC 引脚开路检测）与主机编程的阈值进行比较；或者将来自 AUX ADC 的 AUX 电芯测量值（用于 CB 引脚开路检测）与主机编程的阈值进行比较。

如果 MCU 在开始 CB 开路检查之前通过 [AUX_CELL_SEL] 锁定至单个 CB 通道，则器件会报告用于检查比较的 AUX 电芯测量值。该值在 DIAG_AUX_HI/LO 寄存器中报告。由于主 ADC 中没有单通道锁定机制，因此用于 VC 开路的 VC 通道测量值将不会在 DIAG_MAIN_HI/LO 寄存器中报告。

图 8-51 开路检测

在开始开路比较之前，主机确保：

• 对于 VC 开路检测，主 ADC 以连续模式运行。
• 对于 CB 开路检测，AUX ADC 以连续模式运行
  • 在 ADC_CTRL2[AUX_CELL_SEL4:0] 中配置以选择 AUX 电芯通道
  • 通过 ADC_CONF1[AUX_SETTLE1:0]为 AUX CELL 通道选择所需的稳定时间。
• 通过 DIAG_COMP_CTRL2[OW_THR3:0] 配置开路检测阈值。

要开始开路比较，请执行以下操作：

1. 通过 DIAG_COMP_CTRL3[OW_SNK1:0] 开启 VC 引脚（或 CB 引脚）电流阱或电流源。
2. 如果存在开路故障，则等待外部电容器的 dV/dt 时间消耗至检测阈值。
3. 对于 VC 开路检测，选择 DIAG_COMP_CTRL3[COMP_ADC_SEL2:0] = OW VC 检查（即 0b010）并设置 [COMP_ADC_GO] = 1。或者对于 CB 开路检测，[COMP_ADC_SEL2:0] = OW CB 检查（即 0b011）。
4. 该器件将所有有效 VCELL 测量值（对于 VC 开路）或 AUX 电芯测量值（对于 CB 开路）与 [OW_THR3:0] 阈值设置进行比较。
5. 比较完成后，ADC_STAT2[DRDY_VCOW] = 1（对于 VC 开路）或 [DRDY_CBOW] = 1（对于 CB 开路）。
6. 然后主机通过 DIAG_COMP_CTRL3[OW_SNK1:0] 关闭所有电流阱和电流源。

主机检查 FAULT_COMP_VCOW1/2 或 FAULT_COMP_CBOW1/2 寄存器以获取比较结果。