ZHCSEZ4B May 2016 – February 2022 CSD15380F3
PRODUCTION DATA
该 20V、990mΩ N 沟道 FemtoFET™ MOSFET 经过设计和优化,能够最大限度地减小在许多手持式和移动应用中占用的空间。超低电容提高了开关速度。在数据线应用中使用时,低电容可最大限度地降低噪声耦合。这项技术能够在替代标准小信号 MOSFET 的同时大幅减小封装尺寸。
TA = 25°C | 典型值 | 单位 | ||
---|---|---|---|---|
VDS | 漏源电压 | 20 | V | |
Qg | 栅极电荷总量 (4.5V) | 0.216 | nC | |
Qgd | 栅极电荷(栅极到漏极) | 0.027 | nC | |
RDS(on) | 漏源 导通电阻 |
VGS = 2.5V | 2220 | mΩ |
VGS = 4.5V | 1170 | |||
VGS = 8V | 990 | |||
VGS(th) | 阈值电压 | 1.1 | V |
器件 | 数量 | 介质 | 封装 | 配送 |
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CSD15380F3 | 3000 | 7 英寸卷带 | Femto 0.73mm × 0.64mm 基板栅格阵列 (LGA) |
卷带 包装 |
CSD15380F3T | 250 |
TA = 25°C(除非另外注明) | 值 | 单位 | |
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VDS | 漏源电压 | 20 | V |
VGS | 栅源电压 | 10 | V |
ID | 持续漏极电流(1) | 0.9 | A |
持续漏极电流(2) | 0.5 | ||
IDM | 脉冲漏极电流(3) | 1.6 | A |
PD | 功率耗散(1) | 1.4 | W |
功率耗散(2) | 0.5 | ||
V(ESD) | 人体放电模型 (HBM) | 4 | kV |
充电器件模型 (CDM) | 2 | ||
TJ、 Tstg |
工作结温和 贮存温度 |
–55 至 150 | °C |