ZHCSFB8B August 2016 – February 2022 CSD25485F5
PRODUCTION DATA
该 29.7mΩ、-20V P 沟道 FemtoFET™ MOSFET 技术经过设计和优化,能够最大限度地减小在许多手持式和移动应用中占用的空间。这项技术能够在替代标准小信号 MOSFET 的同时大幅减小封装尺寸。
TA = 25°C | 典型值 | 单位 | ||
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VDS | 漏源电压 | -20 | V | |
Qg | 栅极电荷总量 (-4.5V) | 2.7 | nC | |
Qgd | 栅极电荷(栅极到漏极) | 0.56 | nC | |
RDS(on) | 漏源导通电阻 | VGS = -1.8V | 89 | mΩ |
VGS = -2.5V | 51 | |||
VGS = -4.5V | 35 | |||
VGS = –8V | 29.7 | |||
VGS(th) | 阈值电压 | -0.95 | V |
器件 | 数量 | 介质 | 封装 | 配送 |
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CSD25485F5 | 3000 | 7 英寸卷带 | Femto 1.53mm × 0.77mm 无引线 SMD | 卷带包装 |
CSD25485F5T | 250 |
TA = 25°C | 值 | 单位 | |
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VDS | 漏源电压 | -20 | V |
VGS | 栅源电压 | -12 | V |
ID | 持续漏极电流(1) | –3.2 | A |
持续漏极电流(2) | –5.3 | ||
IDM | 脉冲漏极电流(1)(3) | –31 | A |
PD | 功率耗散(1) | 0.5 | W |
功率耗散(2) | 1.4 | ||
V(ESD) | 人体放电模型 (HBM) | 4000 | V |
充电器件模型 (CDM) | 2000 | ||
TJ、 Tstg | 工作结温、 贮存温度 | –55 至 150 | °C |