ZHCSGW6B October 2017 – October 2021 CSD25501F3
PRODUCTION DATA
此 –20V、64mΩ、P 沟道 FemtoFET™ MOSFET 经过设计和优化,能够尽可能减小许多手持式和移动应用中的空间占用。这项技术能够在替代标准小信号 MOSFET 的同时大幅减小封装尺寸。集成的 10kΩ 钳位电阻器 (RC) 可根据占空比让栅极电压 (VGS) 高于最大内部栅极氧化值 –6V。通过二极管的栅极泄漏 (IGSS) 随着 VGS 增加到高于 –6V 而增加。
TA = 25°C | 典型值 | 单位 | ||
---|---|---|---|---|
VDS | 漏源电压 | -20 | V | |
Qg | 总栅极电荷 (–4.5V) | 1.02 | nC | |
Qgd | 栅极电荷(栅极到漏极) | 0.09 | nC | |
RDS(on) | 漏源 导通电阻 |
VGS = –1.8V | 120 | mΩ |
VGS = -2.5V | 86 | |||
VGS = –4.5V | 64 | |||
VGS(th) | 阈值电压 | -0.75 | V |
器件(1) | 数量 | 包装介质 | 封装 | 配送 |
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CSD25501F3 | 3000 | 7 英寸卷带 | Femto 0.73mm × 0.64mm 基板栅格阵列 (LGA) |
卷带 包装 |
CSD25501F3T | 250 |
TA = 25°C(除非另外注明) | 值 | 单位 | |
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VDS | 漏源电压 | -20 | V |
VGS | 栅源电压 | -20 | V |
ID | 持续漏极电流(1) | –3.6 | A |
IDM | 脉冲漏极电流(1)(2) | –13.6 | A |
PD | 功率耗散(1) | 500 | mW |
V(ESD) | 人体放电模式 (HBM) | 4000 | V |
组件充电模式 (CDM) | 2000 | ||
TJ、 Tstg |
运行结温、 贮存温度 |
–55 至 150 | °C |