ZHCSVK2 March 2024 DAC39RF10-SEP , DAC39RF10-SP , DAC39RFS10-SEP , DAC39RFS10-SP
PRODMIX
在辐射环境中使用米6体育平台手机版_好二三四时,必须仔细考虑环境条件。表 8-2 提供了器件特性的辐射耐受性摘要。
特性 | 辐射耐受性 |
---|---|
可写 SPI 寄存器 (不包括写入清除寄存器) |
实现了抗翻转式触发器。辐射不会改变状态。 |
返回常量值 的只读 SPI 寄存器 | 辐射不会改变状态(即 CHIP_TYPE、CHIP_ID、CHIP_VERSION、VENDOR_ID) |
与 JESD204C 物理层或链路层关联的只读 SPI 状态寄存器(不包括写入清除寄存器) | 返回值可能受辐射影响(SYSREF_POS、LINK_UP、JSYNC_STATE、PLL_LOCKED、LANE_ARR、FIFO_STATUS、JCAP_STATUS、JCAP、BER_CNT、LANE_EQS、ESDONE、ESVO_S、ECOUNT、RXDMUX、CDRPHASE、RXCSA_S)。 |
FUSE_DONE 寄存器 | FUSE_DONE 可抗翻转。 |
OCSTS 寄存器 | PHY 初始化并完成偏移校准后,OCSTS 返回抗翻转的偏移值。但是,翻转可能会导致 PHY PLL 失去锁定,从而重新触发偏移校准过程,并生成新的偏移校准值。 |
粘滞 SPI 状态寄存器 (写入清除) |
当某些事件发生在易出现翻转的逻辑中时,这些位会被置位。翻转可能会导致发生事件并设置粘滞位。翻转也可能会阻止事件设置粘滞位,但这种情况不太可能发生,因为发生这种情况的时间窗口很短。设置粘滞位后,翻转不 会清除它(SPI 读取的触发器具有翻转抗能力)。 示例:LANE_ERR、PLL_LOCK_LOST、SYS_ALM、REALIGNED、CLK_REALIGNED。 |
JESD204C 接收器 | JESD204C 接收器不可抗翻转,但设计为不受功能中断影响(可以从翻转中自动恢复)。请参阅“JESD204C 可靠性”。 |
内插滤波器(DUC 和 DES2X 滤波器) | 内插滤波器不能抗翻转,在翻转时会产生干扰。它们不会受到功能中断的影响。 |
DUC 中的 NCO | NCO 的辐射灵敏度待定。 |
温度传感器 | 温度传感器内的 ADC 不具有抗翻转能力。为了提高可靠性,建议读取 TS_TEMP 三次或更多次,并计算中值。 |