ZHCSVK2 March   2024 DAC39RF10-SEP , DAC39RF10-SP , DAC39RFS10-SEP , DAC39RFS10-SP

PRODMIX  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 器件比较
  6. 引脚配置和功能
  7. 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  热性能信息
    5. 6.5  电气特性 - 直流规格
    6. 6.6  电气特性 - 交流规格
    7. 6.7  电气特性 - 功耗
    8. 6.8  时序要求
    9. 6.9  开关特性
    10. 6.10 SPI 和 FRI 时序图
    11. 6.11 典型特性:带宽和直流线性度
    12. 6.12 典型特性:单音光谱
    13. 6.13 典型特性:双音光谱
    14. 6.14 典型特性:噪声频谱密度
    15. 6.15 典型特性:功率耗散和电源电流
    16. 6.16 典型特性:线性度扫描
    17. 6.17 典型特性:调制波形
    18. 6.18 典型特性:相位和振幅噪声
  8. 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 DAC 输出模式
        1. 7.3.1.1 NRZ 模式
        2. 7.3.1.2 RTZ 模式
        3. 7.3.1.3 射频模式
        4. 7.3.1.4 DES 模式
      2. 7.3.2 DAC 内核
        1. 7.3.2.1 DAC 输出结构
        2. 7.3.2.2 调整满量程电流
      3. 7.3.3 DEM 和抖动
      4. 7.3.4 偏移量调整
      5. 7.3.5 时钟子系统
        1. 7.3.5.1 SYSREF 频率要求
        2. 7.3.5.2 SYSREF 位置检测器和采样位置选择(SYSREF 窗口)
      6. 7.3.6 数字信号处理块
        1. 7.3.6.1 数字上变频器 (DUC)
          1. 7.3.6.1.1 内插滤波器
          2. 7.3.6.1.2 数控振荡器 (NCO)
            1. 7.3.6.1.2.1 相位连续 NCO 更新模式
            2. 7.3.6.1.2.2 相位同调 NCO 更新模式
            3. 7.3.6.1.2.3 相位同步 NCO 更新模式
            4. 7.3.6.1.2.4 NCO 同步
              1. 7.3.6.1.2.4.1 JESD204C LSB 同步
            5. 7.3.6.1.2.5 NCO 模式编程
          3. 7.3.6.1.3 混频器扩展
        2. 7.3.6.2 通道接合器
        3. 7.3.6.3 DES 内插器
      7. 7.3.7 JESD204C 接口
        1. 7.3.7.1  偏离 JESD204C 标准
        2. 7.3.7.2  传输层
        3. 7.3.7.3  扰频器和解码器
        4. 7.3.7.4  链路层
        5. 7.3.7.5  物理层
        6. 7.3.7.6  串行器/解串器 PLL 控制
        7. 7.3.7.7  串行器/解串器纵横制
        8. 7.3.7.8  多器件同步和确定性延迟
          1. 7.3.7.8.1 对 RBD 进行编程
        9. 7.3.7.9  在子类 0 系统中运行
        10. 7.3.7.10 链路复位
      8. 7.3.8 生成警报
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 DUC 和 DDS 模式
      2. 7.4.2 JESD204C 接口模式
        1. 7.4.2.1 JESD204C 接口模式
        2. 7.4.2.2 JESD204C 格式图
          1. 7.4.2.2.1 16 位格式
          2. 7.4.2.2.2 12 位格式
          3. 7.4.2.2.3 8 位格式
      3. 7.4.3 NCO 同步延迟
      4. 7.4.4 数据路径延迟
    5. 7.5 编程
      1. 7.5.1 使用标准 SPI 接口
        1. 7.5.1.1 SCS
        2. 7.5.1.2 SCLK
        3. 7.5.1.3 SDI
        4. 7.5.1.4 SDO
        5. 7.5.1.5 串行接口协议
        6. 7.5.1.6 流模式
      2. 7.5.2 使用快速重新配置接口
      3. 7.5.3 SPI 寄存器映射
  9. 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
      1. 8.1.1 DUC/旁路模式的启动过程
      2. 8.1.2 DDS 模式的启动过程
      3. 8.1.3 了解双边采样模式
      4. 8.1.4 眼图扫描流程
      5. 8.1.5 前标/后标分析流程
      6. 8.1.6 睡眠和禁用模式
      7. 8.1.7 辐射环境建议
        1. 8.1.7.1 SPI 编程
        2. 8.1.7.2 JESD204C 可靠性
        3. 8.1.7.3 NCO 可靠性
          1. 8.1.7.3.1 NCO 频率和相位校正(策略 1)
          2. 8.1.7.3.2 NCO 频率校正(策略 2)
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 S 频带雷达发送器
      2. 8.2.2 设计要求
      3. 8.2.3 详细设计过程
      4. 8.2.4 时钟子系统详细设计过程
        1. 8.2.4.1 示例 1:SWAP-C 优化
        2. 8.2.4.2 示例 2:通过外部 VCO 改善相位噪声 LMX2820
        3. 8.2.4.3 示例 3:分立式模拟 PLL,可实现出色的 DAC 性能
        4. 8.2.4.4 10GHz 时钟生成
      5. 8.2.5 应用曲线
    3. 8.3 电源相关建议
      1. 8.3.1 上电和断电时序
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南和示例
  10. 器件和文档支持
    1. 9.1 接收文档更新通知
    2. 9.2 支持资源
    3. 9.3 商标
    4. 9.4 静电放电警告
    5. 9.5 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

辐射环境建议

在辐射环境中使用米6体育平台手机版_好二三四时,必须仔细考虑环境条件。表 8-2 提供了器件特性的辐射耐受性摘要。

表 8-2 辐射耐受性摘要
特性 辐射耐受性

可写 SPI 寄存器

(不包括写入清除寄存器)

实现了抗翻转式触发器。辐射不会改变状态。
返回常量值 的只读 SPI 寄存器 辐射不会改变状态(即 CHIP_TYPE、CHIP_ID、CHIP_VERSION、VENDOR_ID)
与 JESD204C 物理层或链路层关联的只读 SPI 状态寄存器(不包括写入清除寄存器) 返回值可能受辐射影响(SYSREF_POS、LINK_UP、JSYNC_STATE、PLL_LOCKED、LANE_ARR、FIFO_STATUS、JCAP_STATUS、JCAP、BER_CNT、LANE_EQS、ESDONE、ESVO_S、ECOUNT、RXDMUX、CDRPHASE、RXCSA_S)。
FUSE_DONE 寄存器 FUSE_DONE 可抗翻转。
OCSTS 寄存器 PHY 初始化并完成偏移校准后,OCSTS 返回抗翻转的偏移值。但是,翻转可能会导致 PHY PLL 失去锁定,从而重新触发偏移校准过程,并生成新的偏移校准值。

粘滞 SPI 状态寄存器

(写入清除)

当某些事件发生在易出现翻转的逻辑中时,这些位会被置位。翻转可能会导致发生事件并设置粘滞位。翻转也可能会阻止事件设置粘滞位,但这种情况不太可能发生,因为发生这种情况的时间窗口很短。设置粘滞位后,翻转 会清除它(SPI 读取的触发器具有翻转抗能力)。

示例:LANE_ERR、PLL_LOCK_LOST、SYS_ALM、REALIGNED、CLK_REALIGNED。

JESD204C 接收器 JESD204C 接收器不可抗翻转,但设计为不受功能中断影响(可以从翻转中自动恢复)。请参阅“JESD204C 可靠性”。
内插滤波器(DUC 和 DES2X 滤波器) 内插滤波器不能抗翻转,在翻转时会产生干扰。它们不会受到功能中断的影响。
DUC 中的 NCO NCO 的辐射灵敏度待定。
温度传感器 温度传感器内的 ADC 不具有抗翻转能力。为了提高可靠性,建议读取 TS_TEMP 三次或更多次,并计算中值。