ZHCSVK2 March   2024 DAC39RF10-SEP , DAC39RF10-SP , DAC39RFS10-SEP , DAC39RFS10-SP

PRODMIX  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  热性能信息
    5. 6.5  电气特性 - 直流规格
    6. 6.6  电气特性 - 交流规格
    7. 6.7  电气特性 - 功耗
    8. 6.8  时序要求
    9. 6.9  开关特性
    10. 6.10 SPI 和 FRI 时序图
    11. 6.11 典型特性：带宽和直流线性度
    12. 6.12 典型特性：单音光谱
    13. 6.13 典型特性：双音光谱
    14. 6.14 典型特性：噪声频谱密度
    15. 6.15 典型特性：功率耗散和电源电流
    16. 6.16 典型特性：线性度扫描
    17. 6.17 典型特性：调制波形
    18. 6.18 典型特性：相位和振幅噪声
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 DAC 输出模式
        1. 7.3.1.1 NRZ 模式
        2. 7.3.1.2 RTZ 模式
        3. 7.3.1.3 射频模式
        4. 7.3.1.4 DES 模式
      2. 7.3.2 DAC 内核
        1. 7.3.2.1 DAC 输出结构
        2. 7.3.2.2 调整满量程电流
      3. 7.3.3 DEM 和抖动
      4. 7.3.4 偏移量调整
      5. 7.3.5 时钟子系统
        1. 7.3.5.1 SYSREF 频率要求
        2. 7.3.5.2 SYSREF 位置检测器和采样位置选择（SYSREF 窗口）
      6. 7.3.6 数字信号处理块
        1. 7.3.6.1 数字上变频器 (DUC)
          1. 7.3.6.1.1 内插滤波器
          2. 7.3.6.1.2 数控振荡器 (NCO)
            1. 7.3.6.1.2.1 相位连续 NCO 更新模式
            2. 7.3.6.1.2.2 相位同调 NCO 更新模式
            3. 7.3.6.1.2.3 相位同步 NCO 更新模式
            4. 7.3.6.1.2.4 NCO 同步
              1. 7.3.6.1.2.4.1 JESD204C LSB 同步
            5. 7.3.6.1.2.5 NCO 模式编程
          3. 7.3.6.1.3 混频器扩展
        2. 7.3.6.2 通道接合器
        3. 7.3.6.3 DES 内插器
      7. 7.3.7 JESD204C 接口
        1. 7.3.7.1  偏离 JESD204C 标准
        2. 7.3.7.2  传输层
        3. 7.3.7.3  扰频器和解码器
        4. 7.3.7.4  链路层
        5. 7.3.7.5  物理层
        6. 7.3.7.6  串行器/解串器 PLL 控制
        7. 7.3.7.7  串行器/解串器纵横制
        8. 7.3.7.8  多器件同步和确定性延迟
          1. 7.3.7.8.1 对 RBD 进行编程
        9. 7.3.7.9  在子类 0 系统中运行
        10. 7.3.7.10 链路复位
      8. 7.3.8 生成警报
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 DUC 和 DDS 模式
      2. 7.4.2 JESD204C 接口模式
        1. 7.4.2.1 JESD204C 接口模式
        2. 7.4.2.2 JESD204C 格式图
          1. 7.4.2.2.1 16 位格式
          2. 7.4.2.2.2 12 位格式
          3. 7.4.2.2.3 8 位格式
      3. 7.4.3 NCO 同步延迟
      4. 7.4.4 数据路径延迟
    5. 7.5 编程
      1. 7.5.1 使用标准 SPI 接口
        1. 7.5.1.1 SCS
        2. 7.5.1.2 SCLK
        3. 7.5.1.3 SDI
        4. 7.5.1.4 SDO
        5. 7.5.1.5 串行接口协议
        6. 7.5.1.6 流模式
      2. 7.5.2 使用快速重新配置接口
      3. 7.5.3 SPI 寄存器映射
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
      1. 8.1.1 DUC/旁路模式的启动过程
      2. 8.1.2 DDS 模式的启动过程
      3. 8.1.3 了解双边采样模式
      4. 8.1.4 眼图扫描流程
      5. 8.1.5 前标/后标分析流程
      6. 8.1.6 睡眠和禁用模式
      7. 8.1.7 辐射环境建议
        1. 8.1.7.1 SPI 编程
        2. 8.1.7.2 JESD204C 可靠性
        3. 8.1.7.3 NCO 可靠性
          1. 8.1.7.3.1 NCO 频率和相位校正（策略 1）
          2. 8.1.7.3.2 NCO 频率校正（策略 2）
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 S 频带雷达发送器
      2. 8.2.2 设计要求
      3. 8.2.3 详细设计过程
      4. 8.2.4 时钟子系统详细设计过程
        1. 8.2.4.1 示例 1：SWAP-C 优化
        2. 8.2.4.2 示例 2：通过外部 VCO 改善相位噪声 LMX2820
        3. 8.2.4.3 示例 3：分立式模拟 PLL，可实现出色的 DAC 性能
        4. 8.2.4.4 10GHz 时钟生成
      5. 8.2.5 应用曲线
    3. 8.3 电源相关建议
      1. 8.3.1 上电和断电时序
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南和示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 接收文档更新通知
    2. 9.2 支持资源
    3. 9.3 商标
    4. 9.4 静电放电警告
    5. 9.5 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.3 建议运行条件

在自然通风条件下的工作温度范围内测得（除非另有说明）
最小值 标称值 最大值 单位
电源电压范围 VDDA18A、VDDA18B(1) 1.71 1.8 1.89 V
VEEAM18、VEEBM18(1) -1.89 -1.8 -1.71 V
VDDCLK18、VDDSYS18、VDDR18(2) 1.71 1.8 1.89 V
VDDLB、VDDLA、VDDCLK10(2) 0.95 1 1.05 V
VDDIO(3) 1.71 1.8 1.89 V
VQPS(3) 0 0 1.89 V
VDDDIG、VDDEB、VDDEA、VDDT(3) 0.95 1 1.05 V
VCMI 输入共模电压 CLK+、CLK-(2)(4) 0.4 V
VCMI 输入共模电压 SYSREF+、SYSREF–(2)(4) 0 0.4 1.0 V
VID 输入差分峰峰值电压 SYSREF+ 至 SYSREF– 800 1000 2000 mVPP-DIFF
CLK+ 至 CLK–、fCLK < 5GHz 800 1000 1400 mVPP-DIFF
CLK+ 至 CLK–、5GHz < fCLK < 7.5GHz 800 1000 1800 mVPP-DIFF
CLK+ 至 CLK–、fCLK > 7.5GHz 800 1000 2000 mVPP-DIFF
DCMIN CLK+/– 占空比最小值 45 %
DCMAX CLK+/- 占空比最大值 55 %
TA 自然通风条件下的工作温度范围 -55 125 °C
TJ 工作结温 150(5) °C
(1) AGND 测量。
(2) VSSCLK 测量。
(3) DGND 测量。
(5) SYSREF+/- 端接有两个选项。在选项 1 中，输入弱自偏置为适合交流耦合的更合适共模电压。在选项 2 中，每个输入端子都通过 50 欧姆接地，这适用于从较高共模电压进行电平转换。
(6) 芯片的工作温度设计为 Tj = 150°C，Tj = 122°C 时器件和芯片金属化降级高达 150,000 POH 连续运行。但是，如果在高于 Tj = 105°C 结温下长时间使用，可能会增加封装时基故障 (FIT) 率。
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