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ZHCSTF8 November 2023 DAC530A2W , DAC532A3W

PRODUCTION DATA

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)

YBH|16
- MPBGAQ3

散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)

订购信息

zhcstf8_oa

5.5 电气特性：电压输出

所有最小和最大规格的条件为 –40°C ≤ T_A ≤ +125°C，所有典型规格的条件为 T_A = 25°C，
3V ≤ V_DD ≤ 5.5V，以 V_DD 为基准，增益 = 1 ×，电压输出 DAC 引脚 (VOUTx) 具有阻性负载（R_L = 5kΩ 至 AGND）和容性负载（C_L = 200pF 至 AGND），且数字输入处于 VDD 或 AGND（除非另有说明）

参数		测试条件	最小值	典型值	最大值	单位
静态性能
	分辨率		10			位
INL	积分非线性⁽¹⁾		–1.25		1.25	LSB
DNL	微分非线性⁽¹⁾		-1		1	LSB
	零代码误差⁽²⁾	将 0d 编码至 DAC，V_DD = 5.5V		6	12	mV
	零代码误差⁽²⁾	将 0d 编码到 DAC 中，内部 V_REF，增益 = 4 ×， V_DD = 5.5V		6	15	mV
	零代码误差温度系数⁽²⁾			±10		µV/°C
	偏移误差⁽²⁾	3V ≤ V_DD ≤ 5.5V，V_FB 引脚短接至 V_OUT，DAC 代码：10 位分辨率为 8d	–0.5	0.25	0.5	%FSR
	偏移误差温度系数⁽²⁾	V_FB 引脚短接至 V_OUT，DAC 代码：10 位分辨率为 8d		±0.0003		%FSR/°C
	增益误差⁽²⁾	端点代码之间：10 位分辨率为 8d 至 1016d	–0.5	0.25	0.5	%FSR
	增益误差温度系数⁽²⁾	端点代码之间：10 位分辨率为 8d 至 1016d		±0.0008		%FSR/°C
	满量程误差⁽²⁾	3V ≤ V_DD ≤ 5.5V，DAC（满量程）	-0.5		0.5	%FSR
	满量程误差温度系数⁽²⁾	DAC 处于满量程		±0.0008		%FSR/°C
输出
	输出电压		0		V_DD	V
C_L	容性负载⁽³⁾	R_L = 无限，相位裕度 = 30°			200	pF
C_L	容性负载⁽³⁾	相位裕度 = 30°			1000	pF
	短路电流	V_DD = 3V，满量程输出短接至 AGND 或零标度输出短接至 V_DD		50		mA
	短路电流	V_DD = 5.5V，满量程输出短接至 AGND 或零标度输出短接至 V_DD		60		mA
	输出电压余量⁽³⁾	至 V_DD，DAC 输出空载，内部基准 = 1.21V，V_DD ≥ 1.21V × 增益 + 0.2V	0.2			V
		至 V_DD 和至 AGND，DAC 输出空载	0.8			%FSR
		至 V_DD 和至 AGND，I_LOAD = 10mA（V_DD = 5.5V 时），I_LOAD = 3mA（V_DD = 3V 时）	10			%FSR
Z_O	V_FB 直流输出阻抗⁽⁴⁾	DAC 输出启用，内部基准（增益 = 1.5 × 或 2 ×）或以 V_DD 为基准（增益 = 1 ×）	400	500	600	kΩ
Z_O	V_FB 直流输出阻抗⁽⁴⁾	DAC 输出已启用，内部 V_REF，增益 = 3 × 或 4 ×	325	400	485	kΩ
	电源抑制比（直流）	内部 V_REF，增益 = 2 ×，DAC 处于中标度， V_DD = 5V ±10%		0.25		mV/V
动态性能
t_sett	输出电压建立时间	1/4 至 3/4 标度和 3/4 至 1/4 标度趋稳至 10%FSR，V_DD = 5.5V		20		µs
t_sett	输出电压建立时间	1/4 至 3/4 标度和 3/4 至 1/4 标度趋稳至 10%FSR，V_DD = 5.5V，内部 V_REF，增益 = 4 ×		25		µs
	压摆率	V_DD = 5.5V		0.3		V/µs
	上电干扰幅度	启动时，DAC 输出被禁用		75		mV
	上电干扰幅度	启动时，DAC 输出被禁用，R_L = 100kΩ		200		mV
	输出使能干扰幅度	DAC 输出从禁用至启用，DAC 寄存器处于零标度，R_L = 100kΩ		250		mV
V_n	输出噪声电压（峰峰值）	f = 0.1Hz 至 10Hz，DAC 位于中标度，V_DD = 5.5V		50		µV_PP
V_n	输出噪声电压（峰峰值）	内部 V_REF，增益 = 4 ×，f = 0.1Hz 至 10Hz， DAC 处于中标度，V_DD = 5.5V		90		µV_PP
	输出噪声密度	f = 1kHz，DAC 位于中标度，V_DD = 5.5V		0.35		µV/√Hz
	输出噪声密度	内部 V_REF，增益 = 4 ×，f = 1kHz，DAC 处于中标度，V_DD = 5.5V		0.9		µV/√Hz
	电源抑制比（交流）⁽⁴⁾	内部 V_REF，增益 = 4 ×，200mV 50Hz 或 60Hz 正弦波叠加在电源电压上，DAC 处于中标度		-68		dB
	代码变化干扰脉冲	围绕中标度的 ±1LSB 变化（包括馈通）		10		nV-s
	代码变化干扰脉冲幅度	围绕中标度的 ±1LSB 变化（包括馈通）		15		mV
电源
I_DD	流入 VDD 的电流⁽²⁾ ⁽⁵⁾	DAC532A3W：正常工作，DAC 满量程，数字引脚静态		150		µA/ch
I_DD	流入 VDD 的电流⁽²⁾ ⁽⁵⁾	DAC530A2W：正常工作，DAC 满量程，数字引脚静态		65	85	µA/ch

(1) 在 DAC 输出空载的情况下测量。对于内部基准 V_DD ≥ 1.21 × 增益 + 0.2V，介于终点代码之间：10 位分辨率为 8d 至 1016d。

(2) 在 DAC 输出空载的情况下测量。

(3) 根据设计和特征确定；未经生产测试。

(4) 当使用内部基准时，相对于基准值以 200mV 余量指定。

(5) 总功耗的计算方式为 I_DD × (上电通道总数) + (睡眠模式电流)。