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ZHCSSG9 june 2023 DAC539E4W

PRODUCTION DATA

6.5 电气特性：阈值 DAC

所有最小/最大规格的条件为 –40°C ≤ T_A ≤ +125°C，所有典型规格的条件为 T_A = 25°C，1.7V ≤ V_DD ≤ 5.5V，DAC 基准连接至 VDD，增益 = 1 ×，且数字输入处于 VDD 或 AGND（除非另有说明）

参数		测试条件	最小值	典型值	最大值	单位
静态性能
	分辨率		10			位
INL	积分非线性⁽¹⁾		–1.25		1.25	LSB
DNL	微分非线性⁽¹⁾		-1		1	LSB
	偏移误差⁽³⁾	1.7V ≤ V_DD < 2.7V，AINx 引脚短接至 OUTx，DAC 代码：8d	-0.75	0.3	0.75	%FSR
	偏移误差⁽³⁾	2.7V ≤ V_DD ≤ 5.5V，AINx 引脚短接至 V_OUT，DAC 代码：8d	–0.5	0.25	0.5	%FSR
	偏移误差温度系数⁽³⁾	AINx 引脚短接至 OUTx，DAC 代码：8d		±0.0003		%FSR/°C
	增益误差⁽³⁾	介于终点代码：8d 至 1016d	–0.5	0.25	0.5	%FSR
	增益误差温度系数⁽³⁾	介于终点代码：8d 至 1016d		±0.0008		%FSR/°C
输出
Z_O	V_AIN 输出直流阻抗⁽³⁾	DAC 输出已启用，内部基准（增益 = 1.5 × 或 2 ×）或 V_DD 处的外部基准（增益 = 1 ×），V_REF 引脚未短接至 V_DD	400	500	600	kΩ
Z_O	V_AIN 输出直流阻抗⁽³⁾	DAC 输出已启用，内部 V_REF，增益 = 3 × 或 4 ×	325	400	485	kΩ

(1) 在输出空载的情况下测量。对于外部基准和内部基准 V_DD ≥ 1.21 × 增益 + 0.2V，介于终点代码：8d 至 1016d。

(2) 当使用内部基准时，相对于基准值以 200mV 余量指定。

(3) 在输出空载的情况下测量。