ZHCSX43 September 2024 DDS39RF10 , DDS39RFS10
PRODUCTION DATA
SYSREF 窗口化块用于首先检测 SYSREF 相对于输入时钟 CLK± 上升沿的位置。根据窗口信息,选择最优的 SYSREF 采样时间,以尽可能提高相对于输入时钟的建立和保持时序裕度。在很多情况下,单个 SYSREF 采样位置 SYSREF_SEL 足以满足所有系统(器件间的差异)和条件(温度和电压差异)的时序要求。但是,系统也可以使用此功能来扩展计时窗口(方法是在工作条件发生变化时跟踪 SYSREF 的移动),或者在生产测试时消除系统间的差异(方法是为每个系统在标称条件下寻找唯一的更优值)。
本节介绍了 SYSREF 窗口化块的正确用法(SYSREF_RECV_SLEEP 必须编程为 0)。首先,将器件时钟和 SYSREF 应用于器件。SYSREF 相对于器件时钟周期的位置将被确定并存储在 SYSREF_POS 字段中。SYSREF_POS 的每个位代表一个潜在的 SYSREF 采样位置。如果 SYSREF_POS 中的位设置为 1,则相应的 SYSREF 采样位置可能存在建立或保持时间违例。确定有效的 SYSREF 采样位置(SYSREF_POS 的位置设置为 0)后,可以通过将 SYSREF_SEL 设置为对应于该 SYSREF_POS 位置的值来选择所需的采样位置。通常,选择两个建立和保持实例之间的中间采样位置。SYSREF_SEL 在系统的标称工作条件(温度和电源电压)下确定,以便提供最大裕度来适应工作条件的变化。此过程可在最终测试中执行,并且可存储更优 SYSREF_SEL 设置,以便在每次系统上电时使用。此外,SYSREF_POS 可用于通过扫描系统温度和电源电压来表征系统工作条件下 CLK± 和 SYSREF± 之间的偏斜。对于 CLK± 到 SYSREF± 偏斜有较大变化的系统,此表征可用于在系统工作条件发生变化时跟踪更优 SYSREF 采样位置。通常,可以找到满足匹配良好的系统在所有条件下的时序要求的单个值,例如 CLK± 和 SYSREF± 来自单个时钟器件的条件。
每个 SYSREF_POS 采样位置之间的步长可使用 SYSREF_ZOOM 进行调整。当 SYSREF_ZOOM 设置为 0 时,延迟步长较粗。当 SYSREF_ZOOM 设置为 1 时,延迟步长较细。请参阅电气规格表,了解当 SYSREF_ZOOM 被启用和禁用时的延迟步长。通常,建议始终使用 SYSREF_ZOOM (SYSREF_ZOOM = 1),除非未观察到转换区域(体现在 SYSREF_POS 中就是 1),低时钟速率就是这种情况。SYSREF_POS 的位 0 和 19 始终设置为 1,因为没有足够的信息来确定这些设置是否接近时序违例,尽管实际有效窗口可以扩展到这些采样位置之外。编程到 SYSREF_SEL 中的值是表示 SYSREF_POS 中所需位位置的十进制数。表 7-4 列出了一些 SYSREF_POS 读数示例和更优 SYSREF_SEL 设置。尽管 SYSREF_POS 状态寄存器提供了 20 个采样位置,但 SYSREF_SEL 仅允许选择前 16 个采样位置,对应于 SYSREF_POS 位 0 至 15。附加的 SYSREF_POS 状态位仅用于提供 SYSREF 有效窗口的额外信息。通常,由于电源电压的延迟变化,选择较低的 SYSREF_SEL 值,但在第四个示例中,值 14 可提供额外裕度,因此可以选择该值。
如果 SYSREF_PS_EN 设置为 0,则仅最后一个 SYSREF 边沿用于 SYSREF_POS 值。将 SYSREF_PS_EN 设置为 1 会启用“无限持续”模式,其中,如果自启用 SYSREF_PS_EN 以来的任何 SYSREF 边沿在某个位置具有 1,则 SYSREF_POS 值会设置为 1。这为 SYSREF_POS 提供了最坏情况下的值,以选择合适的 SYSREF_SEL 设置。
SYSREF_POS[19:0] | 更优 SYSREF_SEL 设置 | ||
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0x092[3:0] (位置 19-16) | 0x091[7:0](1)(位置 15-8) | 0x090[7:0](1) (位置 7-0) | |
b1000 | b01100000 | b00011001 | 8 或 9 |
b1000 | b00000000 | b00110001 | 12 |
b1000 | b01100000 | b00000001 | 6 或 7 |
b1000 | b00000011 | b00000001 | 4 或 14 |
b1100 | b01100011 | b00011001 | 6 |
要使用 SYSREF 窗口化: