ZHCSN22 April 2020 DRV8434S
PRODUCTION DATA
对于在全桥内连接的电机而言,电流路径为通过一个半桥的高侧 FET 和另一个半桥的低侧 FET。导通损耗 (PCOND) 取决于电机的均方根电流 (IRMS) 以及高侧 (RDS(ONH)) 和低侧 (RDS(ONL)) 的导通电阻(如Equation4 所示)。
Equation5 中计算了表 8-1 中显示的典型应用的导通损耗。
这种计算方式高度依赖于器件的温度,因为温度会显著影响高侧和低侧的 FET 导通电阻。如需更准确地计算该值,请考虑器件温度对 FET 导通电阻的影响。