在 DIAGNOSTIC 状态下的上电期间，LDC5071-Q1 会进行大量自诊断和检查（有关故障阈值，请参阅诊断；有关抗尖峰脉冲时间，请参阅开关特性）：

1. EEPROM CRC 校验：LDC5071-Q1 会计算 EEPROM 寄存器设置的 CRC 值，并将该值与记录的预期 CRC 值进行比较。如果出现 FAULT，LDC5071-Q1 会转换至 DISABLED 状态。
2. LBIST 检查：LDC5071-Q1 会针对数字逻辑执行自动自检模式。如果出现 FAULT，LDC5071-Q1 会转换至 DISABLED 状态。
3. ABIST 检查：LDC5071-Q1 会针对故障监测电路执行自动自检模式。如果出现 FAULT，LDC5071-Q1 会转换至 DISABLED 状态。
4. 传感器接口 BIST 检查：LDC5071-Q1 将自动测试模式应用于传感器接口（LCIN、LCOUT、IN0P、IN0N、IN1P 和 IN1N）引脚，以检查它们是否与 GND 或电池开路或短路。传感器接口 BIST 检查还会检查传感器线圈之间是否短路以及是否有任何线圈开路。LDC5071-Q1 还将检查 AGC_EN 引脚上是否存在 R_{AGC_EN_AUTO} 或 R_{PU_AGC_EN} 指定的任何阻抗，并检查 AGC_EN 引脚是否未短接至 GND。
5. VREG 电容器损耗检查：LDC5071-Q1 使用 VREG 电容器将内部时间常量与外部时间常量进行比较（仅在 5V VCC 模式下）。仅在上电时执行此检查，如果器件从 FAULT 状态转换为 DIAGNOSTIC 状态，则不执行此检查。可触发此故障的 VREG 引脚上的最大电容由 C_{LOSS_VREG} 给出。
6. LDC5071-Q1 启用 LC 振荡器并检查 V_{UVL_AMP_LC}、V_{OVH_AMP_LC}、V_{UVL_CM_LC} 和 V_{OVH_CM_LC} 故障在 t_{LC_FLT_DT} 内是否消失。
7. LDC5071-Q1 以交错方式启用 AFE、AGC 和输出级。
8. LDC5071-Q1 器件在特定的时间段内复位所有检查和故障，以允许所有内部信号稳定，然后启动监控故障
9. LDC5071-Q1 转换至 Normal 状态，确保满足 t_{PR‎WR_ON} 并且未检测到任何其他故障。在 AUTO AGC 模式下，LDC5071-Q1 还会检查 AGC 块的输出是否在 AGC_Target 内。如果 AGC 块不在 AGC_Target 内，器件转换至 DISABLED 状态。