ZHCSWL4 June 2024 LM5171
PRODUCTION DATA
LM5171 的每个通道都有一个稳健的 5A(峰值)半桥驱动器,用于驱动外部 N 通道功率 MOSFET。如图 6-14 所示,低侧驱动器直接由 VCC 供电,高侧驱动器由自举电容器 CBT 供电。在低侧驱动器导通期间,SW 引脚被下拉至 PGND,而 CBT 由 VCC 通过自举二极管 DBT 供电。TI 建议为 CBT 选择一个 0.1µF 或更大的陶瓷电容器,并为 DBT 选择一个 1A 和 100V 额定值的超快速二极管。TI 还强烈建议用户添加一个与 DBT 串联的 2Ω 至 5Ω 电阻器 (RBT),以限制浪涌充电电流并提升高侧驱动器的抗噪性能。
在降压模式下的启动期间,CBT 可能最初不会充电;然后 LM5171 会使高侧驱动器输出(HO1 和 HO2)保持关断,并在连续周期内发送宽度为 100ns 的 LO 脉冲给 CBT 预充电。当自举电压大于 6.5V 的自举 UV 阈值时,高侧驱动器会在 HO1 和 HO2 引脚上输出 PWM 信号以执行正常的开关操作。如果自举电压在下降沿低于自举 UV 阈值电压,则相应的 HO 输出会拉至低电平,直到自举电压恢复为正常的 HO 开关脉冲。在正常降压模式运行期间,当 CBT 电压降至 6.5V 自举 UV 阈值以下时,会通过中断正常的开关操作来启动相同的预充电功能,直到自举电压恢复到 UV 阈值以上。这有助于防止功率 MOSFET 因栅极电压不足而进入线性模式。请注意,由于老化过程中的性能下降,MOSFET 的栅极阈值电压可能会升至高达 6V。
在升压模式下启动和正常运行期间,CBT 会通过低侧 MOSFET 的正常导通进行自然充电,因此 LO 引脚上没有这样的 100ns 预充电脉冲。
为了防止在同一半桥臂上的高侧和低侧功率 MOSFET 之间发生击穿,可以使用 DT 引脚选择两种类型的死区时间方案:可编程死区时间或内置自适应死区时间。
若要对死区时间进行编程,请在 DT/SD 和 AGND 引脚之间放置一个电阻器 RDT,如图 6-15 所示。
图 6-16 中所示的死区时间 tDT 由方程式 14 确定:
请注意,该公式可用于将 tDT 编程为 15ns 和 200ns 之间。当功率 MOSFET 连接到栅极驱动器时,其栅极输入电容 CISS 会成为栅极驱动输出的负载,且 HO 和 LO 压摆率会下降,导致高侧和低侧 MOSFET 之间的有效 tDT 降低。用户必须评估有效的 tDT,确保其足以防止高侧和低侧 MOSFET 之间发生击穿。
未使用 DT 编程功能时,只需将 DT/SD 引脚连接至 VDD(如图 6-17 所示),即可激活内置自适应死区时间。实现自适应死区时间的方法是由同一半桥开关桥臂的另一个驱动器(LO 或 HO)实时监测驱动器(HO 或 LO)的输出,如图 6-17 和图 6-18 所示。仅当驱动器的输出电压降至 1.5V 以下时,另一个驱动器才会开始导通。如果使用串联栅极电阻器,或者栅极驱动器的 PCB 布线由于布局设计不良而具有过大的阻抗,则自适应死区时间的有效性会大大降低。