ZHCSOE6 November   2023 LMR36500

PRODMIX  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 器件比较表
  6. 引脚配置和功能
  7. 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD(商用)等级
    3. 6.3 建议运行条件
    4. 6.4 热性能信息
    5. 6.5 电气特性
    6. 6.6 系统特性
    7. 6.7 典型特性
  8. 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 使能、关断和启动
      2. 7.3.2 可调开关频率(通过 RT)
      3. 7.3.3 电源正常输出运行
      4. 7.3.4 内部 LDO、VCC UVLO 和 VOUT/FB 输入
      5. 7.3.5 自举电压和 VBOOT-UVLO(BOOT 端子)
      6. 7.3.6 输出电压选择
      7. 7.3.7 软启动和从压降中恢复
        1. 7.3.7.1 软启动
        2. 7.3.7.2 从压降中恢复
      8. 7.3.8 电流限制和短路
      9. 7.3.9 热关断
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 关断模式
      2. 7.4.2 待机模式
      3. 7.4.3 工作模式
        1. 7.4.3.1 CCM 模式
        2. 7.4.3.2 自动模式 - 轻负载运行
          1. 7.4.3.2.1 二极管仿真
          2. 7.4.3.2.2 降频
        3. 7.4.3.3 FPWM 模式 - 轻负载运行
        4. 7.4.3.4 最短导通时间运行
        5. 7.4.3.5 压降
  9. 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
        1. 8.2.2.1  选择开关频率
        2. 8.2.2.2  设置输出电压
          1. 8.2.2.2.1 用于实现可调节输出的 VOUT/FB
        3. 8.2.2.3  电感器选型
        4. 8.2.2.4  输出电容器选型
        5. 8.2.2.5  输入电容器选型
        6. 8.2.2.6  CBOOT
        7. 8.2.2.7  VCC
        8. 8.2.2.8  CFF 选型
        9. 8.2.2.9  外部 UVLO
        10. 8.2.2.10 最高环境温度
      3. 8.2.3 应用曲线
    3. 8.3 优秀设计实践
    4. 8.4 电源建议
    5. 8.5 布局
      1. 8.5.1 布局指南
        1. 8.5.1.1 接地及散热注意事项
      2. 8.5.2 布局示例
  10. 器件和文档支持
    1. 9.1 器件支持
      1. 9.1.1 器件命名规则
    2. 9.2 文档支持
      1. 9.2.1 相关文档
    3. 9.3 接收文档更新通知
    4. 9.4 支持资源
    5. 9.5 商标
    6. 9.6 静电放电警告
    7. 9.7 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

绝对最大额定值

在建议的工作结温范围内(1)
参数 最小值 最大值 单位
电压 VIN 至 GND –0.3 70 V
EN 到 GND –0.3 70 V
SW 至 GND -0.3 70.3 V
PGOOD 至 GND 0 20 V
VOUT/FB 至 GND -0.3 16 V
BOOT 至 SW –0.3 5.5 V
VCC 至 GND –0.3 5.5 V
RT 至 GND(RT 型号) –0.3 5.5 V
MODE/SYNC 至 GND(MODE/SYNC 型号) –0.3 5.5 V
TJ 结温 -40 150 °C
Tstg 贮存温度 –65 150 °C
超出绝对最大额定值运行可能会对器件造成损坏。绝对最大额定值并不表示器件在这些条件下或在建议运行条件以外的任何其他条件下能够正常运行。如果超出建议运行条件但在绝对最大额定值范围内使用,器件可能不会完全正常运行,这可能影响器件的可靠性、功能和性能并缩短器件寿命。