ZHCSQ51 November 2023 MCF8329A
PRODUCTION DATA
MCF8329A 不受许多故障事件的影响,包括电机锁定、PVDD 欠压、AVDD 欠压、GVDD 欠压、自举欠压、过热和过流事件。表 7-5 总结了不同故障的响应、恢复模式、栅极驱动器状态、报告机制。
故障 | 条件 | 配置 | 报告 | 栅极驱动器 | 逻辑 | 恢复 |
---|---|---|---|---|---|---|
PVDD 欠压 (PVDD_UV) |
VPVDD < VPVDD_UV | — | nFAULT | 禁用 | 禁用 | 自动: VPVDD > VPVDD_UV |
AVDD POR (AVDD_POR) |
VAVDD < VAVDD_POR | — | nFAULT | 禁用 | 禁用 | 自动: VAVDD > VAVDD_POR |
GVDD 欠压 (GVDD_UV) |
VGVDD < VGVDD_UV | GVDD_UV_MODE = 0b | nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
GVDD_UV_MODE = 1b | nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
BSTx 欠压 (BST_UV) |
VBSTx - VSHx < VBST_UV |
DIS_BST_FLT = 0b BST_UV_MODE = 0b |
nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
DIS_BST_FLT = 0b BST_UV_MODE = 1b |
nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
VDS 过流 (VDS_OCP) |
VDS > VSEL_VDS_LVL |
DIS_VDS_FLT = 0b VDS_FLT_MODE = 0b |
nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
DIS_VDS_FLT = 0b VDS_FLT_MODE = 1b |
nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
VSENSE 过流 (SEN_OCP)VSENSE 过流 (SEN_OCP) |
VSP > VSENSE_LVL |
DIS_SNS_FLT = 0b SNS_FLT_MODE = 0b |
nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
DIS_SNS_FLT = 0b SNS_FLT_MODE = 1b |
nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
3 电机锁定 (MTR_LCK) |
电机锁定:速度异常;无电机锁定;BEMF 异常 | MTR_LCK_MODE = 0000b 或 0001b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
MTR_LCK_MODE = 0010b 或 0011b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 低侧制动逻辑 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
||
MTR_LCK_MODE = 0100b 或 0101b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
MTR_LCK_MODE = 0110b 或 0111b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 低侧制动逻辑 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
MTR_LCK_MODE = 1000b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 有效 | 有效 | 无操作 | ||
MTR_LCK_MODE = 1001b 至 1111b | 无 | 有效 | 有效 | 无操作 | ||
硬件锁定检测电流限制 (HW_LOCK_ILIMIT) |
相电流 > HW_LOCK_ILIMIT | HW_LOCK_ILIMIT_MODE = 0000b 或 0001b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
HW_LOCK_ILIMIT_MODE =0010b 或 0011b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 低侧制动逻辑 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
||
HW_LOCK_ILIMIT_MODE = 0100b 或 0101b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
HW_LOCK_ILIMIT_MODE = 0110b 或 0111b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 低侧制动逻辑 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
HW_LOCK_ILIMIT_MODE = 1000b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 有效 | 有效 | 无操作 | ||
HW_LOCK_ILIMIT_MODE = 1001b 至 1111b | 无 | 有效 | 有效 | 无操作 | ||
基于 ADC 的锁定检测电流限制 (LOCK_ILIMIT) |
相电流 > LOCK_ILIMIT | LOCK_ILIMIT_MODE = 0000b 或 0001b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
LOCK_ILIMIT_MODE = 0010b 或 0011b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 低侧制动逻辑 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
||
LOCK_ILIMIT_MODE = 0100b 或 0101b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
LOCK_ILIMIT_MODE = 0110b 或 0111b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 低侧制动逻辑 | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
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LOCK_ILIMIT_MODE = 1000b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 有效 | 有效 | 无操作 | ||
LOCK_ILIMIT_MODE = 1001b 至 1111b | 无 | 有效 | 有效 | 无操作 | ||
IPD 超时故障 (IPD_T1_FAULT) |
IPD TIME > 500ms(大约),在 IPD 电流上升或下降期间 | IPD_TIMEOUT_FAULT_EN = 0b | - | 有效 | 有效 | 无操作 |
IPD_TIMEOUT_FAULT_EN = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
IPD 频率故障 (IPD_FREQ_FAULT) |
在前一个 IPD 中的电流衰减之前的 IPD 脉冲 | IPD_FREQ_FAULT_EN = 0b | - | 有效 | 有效 | 无操作 |
IPD_FREQ_FAULT_EN = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 重试: tLCK_RETRY |
||
MPET 反电动势故障 (MPET_BEMF_FAULT) |
电机反电动势 < STAT_DETECT_THR | MPET_CMD = 1 或 MPET_KE = 1 |
nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 高阻态 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
最大 VPVDD(过压)故障 | VPVDD > MAX_VM_MOTOR(如果 MAX_VM_MOTOR ≠ 000b) | MAX_VM_MODE = 0b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
MAX_VM_MODE = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 自动: (VVM < MAX_VM_MOTOR - VM_UV_OV_HYS) V |
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最小 VPVDD(欠压)故障 | VPVDD < MIN_VM_MOTOR(如果 MIN_VM_MOTOR ≠ 000b) | MIN_VM_MODE = 0b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
MIN_VM_MODE = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2(MOSFET 处于高阻态) | 有效 | 自动: (VVM > MIN_VM_MOTOR + VM_UV_OV_HYS) V |
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总线电流限制 | IVM > BUS_CURRENT_LIMIT | BUS_CURRENT_LIMIT_ENABLE = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 活动状态;电机速度/功率/电流将受到限制以限制直流总线电流 | 有效 | 自动:当 IVM < BUS_CURRENT_LIMIT 时,限制将消除 |
电流环路饱和 | 表示由于 VVM 较低而导致电流环路饱和 | SATURATION_FLAGS_EN = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 活动状态;电机速度/功率/电流可能无法达到基准 | 有效 | 自动:电机在退出饱和状态时达到基准工作点 |
速度/功率环路饱和 | 表示由于 VVM 较低、ILIMIT 设置较低等而导致速度/功率环路饱和。 | SATURATION_FLAGS_EN = 1b | nFAULT 和 CONTROLLER_FAULT_STATUS 寄存器 | 活动状态;电机速度/功率可能无法达到基准 | 有效 | 自动:电机在退出饱和状态时达到基准工作点 |
外部看门狗故障 | 看门狗触发之间的时间 > EXT_WD_CONFIG | EXT_WD_EN = 1b EXT_WD_FAULT = 0b |
nFAULT 和 CONTROLLER_FA ULT_STATUS 寄存器 | 有效 | 有效 | 无操作 |
EXT_WD_EN = 1b EXT_WD_FAULT = 1b |
nFAULT 和 CONTROLLER_FA ULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
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热关断 (TSD) |
TJ > TTSD | OTS_AUTO_RECOVERY = 0b | nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 锁存: CLR_FLT |
OTS_AUTO_RECOVERY = 1b | nFAULT 和 GATE_DRIVER_FAULT_STATUS 寄存器 | 拉至低电平 2 | 有效 | 自动: TJ < TOTSD – THYS |