ZHCSQ51 November 2023 MCF8329A
PRODUCTION DATA
参数 | 测试条件 | 最小值 | 标称值 | 最大值 | 单位 | |
---|---|---|---|---|---|---|
标准模式 | ||||||
fSCL | SCL 时钟频率 | 0 | 100 | kHz | ||
tHD_STA | (重复)START 条件后的保持时间 | 在这段时间后,第一个时钟脉冲被生成。 | 4 | µs | ||
tLOW | SCL 时钟的低电平周期 | 4.7 | µs | |||
tHIGH | SCL 时钟的高电平周期 | 4 | µs | |||
tSU_STA | 重复 START 条件的建立时间 | 4.7 | µs | |||
tHD_DAT | 数据保持时间 (1) | I2C 总线器件 | 0 (2) | (3) | µs | |
tSU_DAT | 数据建立时间 | 250 | ns | |||
tr | SDA 和 SCL 信号的上升时间 | 1000 | ns | |||
tf | SDA 和 SCL 信号的下降时间 (2)(5)(6)(7) | 300 | ns | |||
tSU_STO | STOP 条件的建立时间 | 4 | µs | |||
tBUF | 停止条件和启动条件之间的总线空闲时间 | 4.7 | µs | |||
Cb | 每个总线的容性负载 (8) | 400 | pF | |||
tVD_DAT | 数据有效时间 (9) | 3.45 (3) | µs | |||
tVD_ACK | 数据有效确认时间 (10) | 3.45 (3) | µs | |||
VnL | 低电平的噪声容限 | 对于每个连接的器件(包括迟滞) | 0.1*AVDD | V | ||
Vnh | 高电平的噪声容限 | 对于每个连接的器件(包括迟滞) | 0.2*AVDD | V | ||
快速模式 | ||||||
fSCL | SCL 时钟频率 | 0 | 400 | KHz | ||
tHD_STA | (重复)START 条件后的保持时间 | 在这段时间后,第一个时钟脉冲被生成。 | 0.6 | µs | ||
tLOW | SCL 时钟的低电平周期 | 1.3 | µs | |||
tHIGH | SCL 时钟的高电平周期 | 0.6 | µs | |||
tSU_STA | 重复 START 条件的建立时间 | 0.6 | µs | |||
tHD_DAT | 数据保持时间 (1) | 0 (2) | (3) | µs | ||
tSU_DAT | 数据建立时间 | 100 (4) | ns | |||
tr | SDA 和 SCL 信号的上升时间 | 20 | 300 | ns | ||
tf | SDA 和 SCL 信号的下降时间 (2)(5)(6)(7) | 20 x (AVDD/5.5V) | 300 | ns | ||
tSU_STO | STOP 条件的建立时间 | 0.6 | µs | |||
tBUF | 停止条件和启动条件之间的总线空闲时间 | 1.3 | µs | |||
Cb | 每个总线的容性负载 (8) | 400 | pF | |||
tVD_DAT | 数据有效时间 (9) | 0.9 (3) | µs | |||
tVD_ACK | 数据有效确认时间 (10) | 0.9 (3) | µs | |||
VnL | 低电平的噪声容限 | 对于每个连接的器件(包括迟滞) | 0.1*AVDD | V | ||
Vnh | 高电平的噪声容限 | 对于每个连接的器件(包括迟滞) | 0.2*AVDD | V |