ZHCSER1B September 2013 – September 2018 MSP430F5232 , MSP430F5234 , MSP430F5237 , MSP430F5239 , MSP430F5242 , MSP430F5244 , MSP430F5247 , MSP430F5249
PRODUCTION DATA.
以下文档对 MSP430F524x 和 MPS430F543x 器件进行了介绍。www.yogichopra.com 网站上提供了这些文档的副本。
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勘误
介绍功能规格的已知例外情况。
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用户指南
详细介绍了该器件系列提供的模块和外设。
MSP430 引导加载程序（BSL，之前称为引导装载程序）方便用户在原型建模阶段、最终生产和维修期间与 MSP430 微控制器中的嵌入式存储器进行通信。可编程存储器（闪存）和数据存储器 (RAM) 能够按照要求进行变更。不要将此处的引导加载程序与某些数字信号处理器 (DSP) 中将外部存储器中的程序代码（和数据）自动加载到 DSP 内部存储器的引导装载程序混为一谈。
此文档介绍了使用 JTAG 通信端口擦除、编程和验证基于 MSP430 闪存和 FRAM 的微控制器系列的存储器模块所需的功能。此外，该文档还介绍了如何编程所有 MSP430 器件上均具备的 JTAG 访问安全保险丝。此文档介绍了使用标准四线制 JTAG 接口和两线制 JTAG 接口（也称为 Spy-Bi-Wire (SBW)）的器件访问。
此手册介绍了 TI MSP-FET430 闪存仿真工具 (FET) 的硬件。FET 是针对 MSP430 超低功耗微控制器的程序开发工具。文中对提供的接口类型，即并行端口接口和 USB 接口进行了说明。
应用报告
选择合适的晶体、正确的负载电路和适当的电路板布局是实现稳定的晶体振荡器的关键。该应用报告总结了晶体振荡器的功能，介绍了用于选择合适的晶体以实现 MSP430 超低功耗运行的参数。此外，还给出了正确电路板布局的提示和示例。此外，为了确保振荡器在大规模生产后能够稳定运行，还可能需要进行一些振荡器测试，该文档中提供了有关这些测试的详细信息。
随着芯片技术向更低电压方向发展以及设计具有成本效益的超低功耗组件的需求的出现，系统级 ESD 要求变得越来越苛刻。该应用报告阐述了三个不同的 ESD 主题，以帮助电路板设计人员和 OEM 了解并实现强大的系统级设计：(1) 组件级 ESD 测试和系统级 ESD 测试；(2) 实现系统级 ESD 保护的通用设计指南；(3) 系统高效 ESD 设计 (SEED) 简介，这是一种板载和片上 ESD 保护协同设计方法。