ZHCSF37C March 2016 – August 2018 MSP430FR5962 , MSP430FR5964 , MSP430FR5992 , MSP430FR5994 , MSP430FR59941
PRODUCTION DATA.
以下文档介绍 MSP430FR599x 和 MSP430FR596x MCU。www.yogichopra.com 网站上提供了这些文档的副本。
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勘误
描述了功能技术规格的已知例外情况。
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用户指南
该器件系列提供的所有模块和外设的详细 说明 。
MSP430 MCU 上的引导加载程序 (BSL) 允许用户在原型设计、投产和维护等各阶段与 MSP430 MCU 中的嵌入式存储器进行通信。可编程存储器 (FRAM) 和数据存储器 (RAM) 均可按要求予以修改。
此文档介绍了使用 JTAG 通信端口擦除、编程和验证基于 MSP430 闪存和 FRAM 的微控制器系列的存储器模块所需的功能。此外,该文档还介绍了如何编程所有 MSP430 器件上均具备的 JTAG 访问安全保险丝。此文档介绍了使用标准四线制 JTAG 接口和两线制 JTAG 接口(也称为 Spy-Bi-Wire (SBW))的器件访问。
此手册介绍了 TI MSP-FET430 闪存仿真工具 (FET) 的硬件。FET 是针对 MSP430 超低功耗微控制器的程序开发工具。文中对提供的接口类型,即并行端口接口和 USB 接口进行了说明。
应用报告
选择合适的晶体、正确的负载电路和适当的电路板布局是实现稳定的晶体振荡器的关键。该应用报告总结了晶体振荡器的功能,介绍了用于选择合适的晶体以实现 MSP430 超低功耗运行的参数。此外,还给出了正确电路板布局的提示和示例。此外,为了确保振荡器在大规模生产后能够稳定运行,还可能需要进行一些振荡器测试,该文档中提供了有关这些测试的详细信息。
随着硅晶技术向更低电压方向发展以及设计具有成本效益的超低功耗组件的需求的出现,系统级 ESD 要求变得越来越苛刻。本应用报告解决了三大不同的 ESD 主题,帮助电路板设计人员和 OEM 了解并设计强大的系统级设计:(1) 组件级 ESD 测试和系统级 ESD 测试;(2) 实现不同水平的系统级 ESD 保护的通用设计指南;(3) 系统高效 ESD 设计 (SEED) 简介。