电磁干扰 (EMI) 抑制比 (EMIRR) 描述了运算放大器的 EMI 抗扰性。许多运算放大器常见的不利影响是由射频信号整流引起的失调电压变化。如果一个运算放大器能更有效地抑制由 EMI 引起的失调电压变化，该放大器会具有较高的 EMIRR 并由分贝值量化。测量 EMIRR 可用多种方法来完成，但该报告提供了 EMIRR IN+，当射频信号施加到运算放大器的同相输入引脚时，可使用该指标来具体描述 EMIRR 性能。一般情况下，仅出于以下三点原因对同相输入进行 EMIRR 的测试：

1. 众所周知，运算放大器输入引脚对 EMI 最为敏感，通常比电源引脚或输出引脚能更好地校正射频信号。
2. 同相和反相运算放大器输入具有对称的物理布局，并表现出近乎匹配的 EMIRR 性能。
3. 在同相引脚上测量 EMIRR 比在其他引脚上测量更容易，因为在印刷电路板 (PCB) 上可以隔离同相输入端子。这种隔离使得射频信号可以直接施加到同相输入端子上，而不会与其他组件或连接性 PCB 迹线发生复杂的相互作用。

有关 EMIRR IN+ 定义和测试方法的更正式的讨论，请参阅运算放大器的 EMI 抑制比 应用手册，可从 www.ti.com 下载该文档。图 7-4 显示了 OPA277 的 EMIRR IN+ 与频率间的关系图。

任何双路和四路运算放大器器件版本（如果可用）具有几乎相似的 EMIRR IN+ 性能。OPA277 单位增益带宽为 1MHz。低于该频率的 EMIRR 性能表示存在位于运算放大器带宽内的干扰信号。

表 7-1 展示了 OPA277 在实际应用中通常会遇到的特定频率下的 EMIRR IN+ 值。表 7-1 列出的应用可在下图给出的特定频率或其近似频率下运行。对于从事此类应用，或在可能遇到各种来源射频干扰的其他领域（例如工业、科学和医疗 (ISM) 无线电频带）工作的设计人员而言，此信息特别重要。