PGA460-Q1 实施了循环冗余校验 (CRC)，这是一种自包含算法，用于验证 EEPROM 存储数据和阈值设置的完整性。当执行 EEPROM 程序或 EEPROM 重新加载操作，或写入阈值寄存器时，CRC 控制器会计算正确的 CRC 值并将其写入相应的寄存器：对于 EEPROM 存储器，此值会写入到 EE_CRC 寄存器。对于阈值设置，此值会写入到 THR_CRC 寄存器。

当发出 EEPROM 重新加载命令时，在上电时执行 CRC。所有存储器块的 CRC 算法是相同的，如Equation6 所示，其初始种子值为 0xFF，并使用 MSB 排序。从 MSB 到 LSB 按字节执行此计算。数据按如下方式连接：

• 对于 EEPROM 存储器：连接从 MSB USER_DATA1 (0x00) 开始，一直到 LSB P2_GAIN_CTRL (0x2A)，计算出的 CRC 存储在 EE_CRC 寄存器 (0x2B) 中
• 对于阈值设置：连接从 MSB P1_THR_0 (0x5F) 开始，一直到 LSB P2_THR_15 (0x7E)，计算出的 CRC 存储在 THR_CRC 寄存器 (0x7F) 中

CRC 校验的结果存储在 DEV_STAT0 寄存器中，可以直接通过 UART 接口读取，而时间指令接口在状态位 3 和状态位 1 中报告这些结果。更多有关时间指令接口状态位的信息，请参阅时间命令接口 部分。有关默认值的信息，请参阅寄存器映射 部分。