由于老化和环境的影响，所有半导体器件的半导体芯片和封装材料都会随着时间的推移而产生物理变化。这些变化以及芯片上相关的封装应力会导致精密基准电压源中的输出电压随时间的推移而发生偏离。这种变化的值由数据表中称为长期稳定性（也称为长期漂移 (LTD)）的参数指定。方程式 4 显示了如何计算 LTD。请注意，如果输出电压漂移随着时间推移变得更高，则 LTD 值为正值，如果电压漂移随着时间推移变得更低，则为负值。图 7-23 至图 7-30 显示了 REF50xx 的输出电压在前 4000 个工作小时内的漂移。

方程式 4.

其中

• LTD(ppm)|_t=n = 长期稳定性（单位为 ppm ）
• V_OUT|_t=0 = 时间为 0 小时情况下的输出电压
• V_OUT|_t=n = 时间为 n 小时情况下的输出电压