ZHCSPM5 December   2023 TAC5242

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD 等级
    3. 6.3 建议运行条件
    4. 6.4 热性能信息
    5. 6.5 电气特性
    6. 6.6 时序要求：TDM、I2S 或 LJ 接口
    7. 6.7 开关特性：TDM、I2S 或 LJ 接口
  8. 7 参数测量信息
  9. 8 详细说明
    1. 8.1 概述
    2. 8.2 功能方框图
    3. 8.3 特性说明
      1. 8.3.1 硬件控制
      2. 8.3.2 音频串行接口
        1. 8.3.2.1 时分多路复用 (TDM) 音频接口
        2. 8.3.2.2 IC 间音频 (I2S) 接口
      3. 8.3.3 锁相环 (PLL) 和时钟生成
      4. 8.3.4 模拟输入输出配置
      5. 8.3.5 基准电压
      6. 8.3.6 ADC 信号链
        1. 8.3.6.1 数字高通滤波器
        2. 8.3.6.2 可配置数字抽取滤波器
          1. 8.3.6.2.1 线性相位滤波器
            1. 8.3.6.2.1.1 采样速率：16kHz 或 14.7kHz
            2. 8.3.6.2.1.2 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
            3. 8.3.6.2.1.3 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
            4. 8.3.6.2.1.4 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
            5. 8.3.6.2.1.5 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
      7. 8.3.7 DAC 信号链
        1. 8.3.7.1 可配置数字内插滤波器
          1. 8.3.7.1.1 线性相位滤波器
            1. 8.3.7.1.1.1 采样速率：16kHz 或 14.7kHz
            2. 8.3.7.1.1.2 采样速率：24kHz 或 22.05kHz
            3. 8.3.7.1.1.3 采样速率：32kHz 或 29.4kHz
            4. 8.3.7.1.1.4 采样速率：48kHz 或 44.1kHz
            5. 8.3.7.1.1.5 采样速率：96kHz 或 88.2kHz
            6. 8.3.7.1.1.6 采样速率：384kHz 或 352.8kHz
    4. 8.4 器件功能模式
      1. 8.4.1 工作模式
  10. 9 应用和实施
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型应用
      1. 9.2.1 应用
      2. 9.2.2 设计要求
      3. 9.2.3 详细设计过程
  11. 10电源相关建议
  12. 11器件和文档支持
    1. 11.1 文档支持
      1. 11.1.1 相关文档
    2. 11.2 接收文档更新通知
    3. 11.3 支持资源
    4. 11.4 商标
    5. 11.5 静电放电警告
    6. 11.6 术语表
  13. 12修订历史记录
  14. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.1 绝对最大额定值

在工作环境温度范围内测得（除非另有说明）(1)
最小值 最大值 单位
电源电压 AVDD 至 AVSS –0.3 3.9 V
电源电压 IOVDD 至 VSS（散热焊盘） –0.3 3.9 V
接地电压差 AVSS 至 VSS（散热焊盘） –0.3 0.3 V
模拟输入电压 模拟输入引脚电压至 AVSS –0.3 AVDD+0.3 V
数字输入电压 数字输入引脚电压至 VSS（散热焊盘） –0.3 IOVDD + 0.3 V
温度 功能环境温度，TA -55 125 °C
工作环境温度，TA -40 125
结温，TJ -40 150
贮存温度，Tstg -65 150
(1) 应力超出绝对最大额定值 下所列的值可能会对器件造成永久损坏。这些列出的值仅仅是应力额定值，这并不表示器件在这些条件下以及在建议运行条件 以外的任何其他条件下能够正常运行。长时间处于绝对最大额定条件下可能会影响器件的可靠性。
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