ZHCSRS8E February 2023 – April 2024 TLV709
PRODUCTION DATA
该器件具有内置的零泄漏控制电路。在高温下,导通晶体管漏电流会增加,并开始在空载 (IOUT = 0mA) 条件下影响 VOUT 精度。随着 LDO 两端余量 (VIN – VOUT) 的增加,这种泄漏变得更加严重。TLV709 有一个内置的零泄漏控制电路,此电路可检测导通晶体管泄漏并为泄漏提供一个接地放电路径。该电路有助于 TLV709 在宽 VIN 和温度范围(–40°C 至 +125°C)内保持更严格的 VOUT 精度。