ZHCSR44B November   2023  – June 2024 TMAG3001

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 引脚配置和功能
  6. 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性
    6. 5.6  温度传感器
    7. 5.7  A1 的磁特性
    8. 5.8  A2 的磁特性
    9. 5.9  磁温度补偿特性
    10. 5.10 I2C 接口时序
    11. 5.11 上电时序
    12. 5.12 时序图
    13. 5.13 典型特性
  7. 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 磁通量方向
      2. 6.3.2 传感器位置
      3. 6.3.3 中断功能
      4. 6.3.4 变化时唤醒
      5. 6.3.5 器件 I2C 地址
      6. 6.3.6 磁场范围选择
      7. 6.3.7 更新速率设置
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 待机(触发)模式
      2. 6.4.2 睡眠模式
      3. 6.4.3 唤醒和睡眠 (W&S) 模式
      4. 6.4.4 连续测量模式
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 I2C 接口
        1. 6.5.1.1 转换触发
        2. 6.5.1.2 总线事务
          1. 6.5.1.2.1 三通道 I2C 写入
          2. 6.5.1.2.2 通用广播写入
          3. 6.5.1.2.3 标准 I2C 读取
          4. 6.5.1.2.4 16 位数据的 I2C 读取命令
          5. 6.5.1.2.5 8 位数据的 I2C 读取命令
          6. 6.5.1.2.6 I2C 读取 CRC
      2. 6.5.2 数据定义
        1. 6.5.2.1 磁传感器数据
        2. 6.5.2.2 温度传感器数据
        3. 6.5.2.3 磁传感器增益校正
        4. 6.5.2.4 磁传感器偏移校正
        5. 6.5.2.5 角度和幅度定义
        6. 6.5.2.6 角度偏移校正
  8. 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
      1. 7.1.1 选择灵敏度选项
      2. 7.1.2 磁体的温度补偿
      3. 7.1.3 传感器转换
        1. 7.1.3.1 连续转换
        2. 7.1.3.2 触发转换
        3. 7.1.3.3 伪同步采样
      4. 7.1.4 磁体限值检查
      5. 7.1.5 幅度限值检查
      6. 7.1.6 角度限值检查
      7. 7.1.7 开关模式
        1. 7.1.7.1 单极开关模式
        2. 7.1.7.2 全极开关模式
        3. 7.1.7.3 篡改检测
        4. 7.1.7.4 角度开关
        5. 7.1.7.5 幅度开关(按钮按压检测)
      8. 7.1.8 线性测量过程中的误差计算
      9. 7.1.9 角度测量过程中的误差计算
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 角度测量
        1. 7.2.1.1 设计要求
        2. 7.2.1.2 详细设计过程
          1. 7.2.1.2.1 角度测量的增益调整
        3. 7.2.1.3 应用曲线
    3. 7.3 优秀设计实践
    4. 7.4 电源相关建议
    5. 7.5 布局
      1. 7.5.1 布局指南
      2. 7.5.2 布局示例
  9. 寄存器映射
  10. 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

磁传感器增益校正

如果需要,TMAG3001 可以对磁轴之一进行增益校正。表 6-15 显示了用于设置磁增益的寄存器配置。MAG_GAIN_CH 和 ANGLE_EN[1:0] 位用于设置可为增益修改配置的特定磁通道。Sensor_Config_4 寄存器用于存储要校正的 Gain_Config,以 8 位值表示。

表 6-9 用于配置磁增益校正的寄存器字段设置

寄存器名称

ANGLE_EN = 1b 且 THR_SEL = 00、01 或 11b 时的寄存器别名

说明

Sensor_Config_4Gain_Config[7:0]

配置由 Sensor_Config_2 寄存器的 MAG_GAIN_CH 和 ANGLE_EN[1:0] 值定义的磁通道之一的增益

Gain_Config[7:0] 是测得的磁场的直接乘数,其值介于 0 和 1 之间。Gain_Config[7:0] 的 LSB 大小为 0.00390625。例如,如果 TMAG3001 测得的磁场为 20mT,并且使用 Gain_Config[7:0] 设置 80h,增益设置为 0.5,则 X_Result 的结果值为 10mT。

表 6-10 1 位 Gain_Config 数据格式
增益 (mT/mT)Gain_Config[7:0]
二进制十六进制
00000 000000h
0.003906250000 000101h
0.250100 000040h
0.51000 000080h
0.751100 0000C0h
0.996093751111 1111FFh

例如,图 6-26 显示了使用 Gain_Config[7:0] 寄存器设置校正后的磁场幅度。传感器的选择和顺序在 ANGLE_EN[1:0] 寄存器位设置中定义。如果 Gain_Config[7:0] 寄存器设置为 00h,则禁用所选通道的增益校正。

TMAG3001 磁传感器数据增益校正图 6-26 磁传感器数据增益校正