除了较大的热漂移之外，典型的磁性电流传感器由于在器件的寿命内老化，其灵敏度还会出现 2% 到 3% 的额外漂移。TMCS1126 中用于降低温度漂移的相同专有补偿技术也用于大大降低由于应力和环境条件（尤其是在较高的运行温度下）引起的老化而导致的寿命漂移。如电气特性 所示，TMCS1126 具有行业出色的寿命灵敏度漂移，这是在标准三批 AEC-Q100 认证期间，在 130°C 和 85% 相对湿度 (RH) 下进行高加速应力测试 (HAST) 后实现的。在按照 AEC-Q100 认证规定进行 1000 小时、125°C 高温工作寿命应力测试后，还观察到电气特性 中规定的界限内的低灵敏度和温漂。这些测试模拟了典型的器件寿命操作，表明与典型的磁性电流传感器相比，老化导致的器件性能变化得到了极大改善。图 8-2 和图 8-3 展示了在进行 AEC-Q100 规定的 1000 小时、125°C 高温工作寿命应力测试后的灵敏度和偏移量漂移。器件的运行性能在器件的整个生命周期内存在差异。该测试模拟了典型的器件寿命，并表明器件与典型磁传感器相比可能会大幅提高性能。

图 8-2 AEC-Q100 高温工作寿命应力测试后的灵敏度误差漂移

图 8-3 AEC-Q100 高温工作寿命应力测试后的以输入为基准的失调漂移