热保护行为可分为三类可能发生的事件。图 7-9 展示了每个类别。

1. 相对热关断：启用该器件以进入过流事件。DIAG_EN 引脚为高电平，因此可以在 SNS 和 FLT 上监控诊断（但是，DIAG_EN 处于高电平并不是所有保护功能正常工作的必要条件）。输出电流升至高达 I_ILIM 电平，FLT 变为低电平，同时 SNS 变为 V_SNSFH。随着这一大量电流流过，FET 的结温相对于控制器温度迅速升高。当功率 FET 温度升高的 T_REL 量超过控制器结温 ΔT = T_FET – T_CON > T_REL 时，器件关断。SNS 和 FLT 上会持续显示故障，而器件等待 t_RETRY 计时器到期。当 t_RETRY 计时器到期时，由于 LATCH 引脚为低电平，而 EN 仍然为高电平，因此器件会返回到该 I_ILIM 状况。
2. 绝对热关断：在发生过流事件时器件仍处于启用状态，DIAG_EN 为高电平，而 LATCH 仍为低电平。然而，在这种情况下，结温升高并达到绝对参考温度 T_ABS，然后关断。直到 T_J < T_ABS – T_hys 且 t_RETRY 计时器到期，器件才会恢复。
3. 闭锁模式：启用该器件以进入过流事件。DIAG_EN 引脚处于高电平，以便可以在 SNS 和 FLT 上监控诊断。输出电流升至高达 I_ILIM 电平，FLT 变为低电平，同时 SNS 变为 V_SNSFH。如果器件由于热故障而关断（相对热关断或绝对热关断），则在切换 LATCH 引脚或 EN 引脚之前，器件不会启用通道。

图 7-9 热行为