ZHCSW37 April 2024 TPS23881B
PRODUCTION DATA
命令 = 12h,带 1 个数据字节,读取/写入
7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
C4M1 | C4M0 | C3M1 | C3M0 | C2M1 | C2M0 | C1M1 | C1M0 |
R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 |
说明:R/W = 读/写;R = 只读;-n = 复位后的值 |
位 | 字段 | 类型 | 复位 | 说明 | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
7-0 | CnM1–CnM0 | R/W | 0 | 每对位将配置每个通道的工作模式。 选择如下: | ||||
M1 | M0 | 工作模式 | ||||||
0 | 0 | 关闭 | ||||||
0 | 1 | 诊断/手动 | ||||||
1 | 0 | 半自动 | ||||||
1 | 1 | 自动 | ||||||
对于 4 线对有线端口,两个通道必须设置为相同的工作模式。否则,端口将不会执行发现,并且将忽略所有开启命令。 |
关闭模式:
在关闭模式下,通道将关闭,既不执行检测也不执行分级,与 DETE、CLSE 或 PWON 位无关。
下表描述了当通道从任何其他工作模式切换到关闭模式时将清除的位:
寄存器 | 要复位的位 |
---|---|
0x04 | CLSCn 和 DETCn |
0x06 | DISFn 和 PCUTn |
0x08 | STRTn 和 ILIMn |
0x0A/B | PCUTnn |
0x0C-0F | 请求的分级和检测 |
0x10 | PGn 和 PEn |
0x14 | CLEn 和 DETEn |
0x1C | ACn 和 CCnn |
0x1E-21 | 2P 管制设置为 0xFFh |
0x24 | PFn |
0x2A-2B | 4P 管制设置为 0xFFh |
0x2D | NLMnn、NCTnn、4PPCTnn 和 DCDTnn |
0x30-3F | 通道电压和电流测量 |
0x40 | 2xFBn |
0x44 - 47 | 检测电阻测量 |
0x4C-4F | 分配的分级和先前的分级 |
0x51-54 | Autoclass 测量 |
更改为关闭模式后,可能需要 5ms 以上的时间才能清除所有寄存器。
只会清除与设为关闭模式的通道/端口(“n”)相关的位。与仍然保持工作状态的通道/端口相关的位将不会改变。
如果 PGn 或 PEn 位从 1 更改为 0,则将在电源事件寄存器 0x02h 中设置相应的 PGCn 和 PECn 位。
此外,从半自动模式更改为手动/诊断模式或关闭模式将会取消任何进行中的冷却期。
诊断/手动模式:
在手动/诊断模式下,不会自动更改状态。在提供 DETE、CLSE(0x14h 或 0x18h)或 PWON 命令之前,通道将保持空闲状态。在设置 DETE 和/或 CLSE 位时,通道将在相应的通道上执行奇异检测和/或分级周期。
设置寄存器 0x19 中的 PWONn 位会使该通道立即开启。
对于非手动/诊断模式下受电的端口/通道,不会为其指定分配的分级。通常根据分配的分级结果配置的任何设置(如端口功率管制和 1x/2x 折返选择)都需要由用户手动配置。
对于 4 线对有线端口(0x29 中的 4PWnn 位 = 1):
仅在一个通道上设置 DETE 或 CLSE 位将导致仅在该通道上进行检测和/或分级,并且不会执行连接检查。
在同一 I2C 运行期间设置两个通道的 DETE 位将导致在两个通道上完成检测周期,如果检测结果有效,还将完成连接检查。
在同一 I2C 运行期间设置两个通道的 CLSE 位将导致在两个通道上进行交错分级测量
设置寄存器 0x19 中的 PWONn 位会使该通道立即开启。
在手动/诊断模式下加电的 4 线对端口的直流断开将在独立通道中发生。因此,如果任一通道电流降至 VIMIN 以下的时间长于 tMPDO,则该通道将被禁用,并且将生成断开故障(寄存器 0x06/7 中的 DISFn 位)。
CLEn | DETn | PWONn | 通道工作模式 |
---|---|---|---|
0 | 0 | 0 | 空闲 |
0 | 1 | 0 | 单次检测测量(对于 4P 有线端口,如果两个通道都设置了 DETE 位,则完成连接检查) |
1 | 0 | 0 | 单次分级测量 |
1 | 1 | 0 | 单次检测和分级测量完成。(对于 4P 有线端口,如果两个通道都设置了 DETE 和 CLE 位,则完成连接检查) |
- | - | 1 | 通道立即开启,不执行任何检测和分级 |
半自动模式:
在半自动模式下,只要通道未受电,就可以根据是否设置了相应的分级和检测使能位(寄存器 0x14h)来连续执行检测和分级。
CLEn | DETn | 通道工作模式 |
---|---|---|
0 | 0 | 空闲 |
0 | 1 | 仅循环检测测量 |
1 | 0 | 空闲 |
1 | 1 | 循环检测和分级测量 |
如果两个通道配置为 4 线对有线端口,一旦在其中一个通道上看到有效的检测结果,便会执行连接检查测量
对于仅有一个通道受电的 4 线对双特征 PD,如果在 0x14h 内为未受电的通道设置了 DETE 和 CLE 位,则该通道将执行继续检测和分级。
自动模式:
在自动模式下,通道将根据 0x29 中的端口功率分配设置来自动启动任何有效的检测和分级特征。在设置 DETE 和 CLSE(0x14 或 0x18)或发出 PWON 命令之前,通道将保持空闲状态。
在自动模式下设置 DETE 和 CLE 或发送 PWON 命令之前,需要根据系统要求和配置来配置以下寄存器:
寄存器 | 位 |
---|---|
0x26 | 端口重映射 |
0x29 | 4 线对有线和端口功率分配 |
0x50 | 自动交流使能 |
0x55 | 备用浪涌和受电折返使能 |
在自动模式下设置 DETE 和 CLE 位后对这些寄存器进行的更改可能会导致意外或不符合 IEEE 标准的行为。
如果需要更改默认行为(因为这些值是在加电期间根据端口配置和分配的 PD 分级结果在内部设置的),则可以在开启后配置或更改以下寄存器:
寄存器 | 位 |
---|---|
0x1E-21 | 2 线对管制 |
0x2A-2B | 4 线对管制 |
0x2D | 4P Pcut 使能和直流断开阈值位 |
0x40 | 2x 折返使能 |