执行内置自检 (BIST)：

1. 上电复位 (POR) 时，如果 TEST_CFG.AT_POR=1
2. 如果 TEST_CFG.AT_SHDN=1，则当因 ACT 1→0 转换而退出运行状态时

从 OTP 加载配置由 ECC（支持 SEC-DED）提供辅助。这是为了防止数据完整性问题并更大程度地提高系统可用性。

在 BIST 期间，NIRQ 被置为无效（在故障情况下置为有效），输入引脚被忽略，SYNC 为三态，并且 I²C 块在 SDA 和 SCL 置为无效时处于不活动状态。BIST 包括器件测试，以满足功能安全文档中概述的功能安全目标。一旦 BIST 成功完成，I²C 将立即激活，并且器件在从 OTP 加载配置数据后进入空闲状态。如果 BIST 失败且/或 ECC 报告双比特错误检测（DED；用于在从存储器加载数据时检测多个位翻转），则 NIRQ 被置为有效，器件进入失效防护状态，并尽可能使 I²C 功能保持活动状态。TEST_INFO 寄存器可能会提供有关测试结果的附加信息。

BIST 成功/失败时的详细行为由 INT_TEST 和 IEN_TEST 寄存器控制。通过以下方式报告 BIST 结果：

• NIRQ 引脚：被拉低，具体取决于测试结果以及 IEN_TEST 中的 BIST_C 和 BIST 位
• INT_TEST 寄存器中的 I_BIST_C 和 BIST 位，具体取决于 IEN_TEST 设置
• VMON_STAT.ST_BIST_C 寄存器位
• TEST_INFO[3:0] 寄存器位