- 在 t0 时:VDRV 被置为高电平,外部 FET 提供负载电流 ILOAD。ILOAD 处于正常工作范围内,低于警报级别设置 4A(标称值)。ALM1_CMP 和 FLT1_CMP 比较器输入电压低于 TPSI3100 的 VREF 设置的比较器阈值 0.31V(标称值)。ALM1 和 FLT1 故障通过外部上拉电阻器上拉至 VDDP 而被置为高电平。
- 在 t1 时:ILOAD 电流增加并达到 4A(标称值)的警报级别设置。ALM1_CMP 比较器输入电压达到其阈值 0.31V,ALM1 在 tALM_LATENCY 内置为低电平。由于尚未达到 FLT1_CMP 比较器输入阈值,因此 VDRV 仍然被置为高电平。FLT1 仍然通过外部上拉电阻器上拉至 VDDP 而被置为高电平。
- 在 t2 时:ILOAD 电流增加并达到 8A(标称值)的故障级别设置。FLT1_CMP 比较器输入电压达到其 0.31V 的阈值,VDRV 被快速置为低电平以禁用外部 FET。FLT1 在 tFLT_LATENCY 内置为低电平。由于 ALM1_CMP 比较器输入超过其阈值,因此 ALM1 仍然被置为低电平。
- 在 t3 时:由于 FET 已关断,因此 ILOAD 被移除。FLT1_CMP 和 ALM1_CMP 比较器输入降至其阈值以下,稳定至 VSSS。VDRV 仍然被置为低电平,使外部 FET 保持关断达 tREC_VDRV。FLT1 和 ALM1 分别在 tFLT_LATENCY 和 tALM_LATENCY 内置为高电平,向系统指示故障和警报条件已消除。
- 在 t4 时:由于 EN 保持高电平,VDRV 再次置为高电平,已经过 tREC_VDRV 时间,故障条件不再存在。外部 FET 启用,在正常工作范围内提供 ILOAD。
图 9-8 显示了典型的波形捕获。在时间 0μs 时,施加超过 5A 的负载电流 (ILOAD) 脉冲。由于这高于 4.13A 的警报比较器阈值,因此 ALM1 指示器在 tALM_LATENCY 内被置为低电平,在这种情况下接近时间 5μs。大约在时间 15µs 时,施加超过 10A 的负载电流脉冲。由于这高于 8.27A 的故障比较器阈值,因此 VDRV 被快速置为低电平以保护功率 FET,ILOAD 降至 0A。FLT1 在 tFLT_LATENCY 内被置为低电平,在这种情况下接近时间 30μs。在第二个负载电流脉冲上,超过故障和警报比较器阈值。ILOAD 降至故障和警报比较器阈值以下后,ALM1 和 FLT1 在接近时间 55μs 时置为高电平,指示不存在警报或故障。VDRV 保持被置为低电平,直到经过 tREC_VDRV 时间(接近时间 180μs)。