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ZHCSWK4B June 2024 – November 2024 TUSB2E221

PRODMIX

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)

YCG|25
- MXBG410

散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)

订购信息

zhcswk4b_oa

6.7 时序要求

		最小值	标称值	最大值	单位
I/O 时序
t_{_GPIO_PW}	INT 事件的最小 GPIO 脉冲宽度	8			µs
复位时序
t_{_VDD1V8_RAMP}	VDD1V8 达到最小值 1.62V 的斜坡时间			2	ms
t_{_VDD3V3_RAMP}	VDD3V3 达到最小值 3.0V 的斜坡时间			2	ms
t_{_su_CROSS}	RESETB 置为无效时对 CROSS 采样的建立时间	0			ms
t_{_hd_CROSS}	RESETB 置为无效时 CROSS 采样的保持时间	3			ms
t_{_aRESETB}	RESETB 置为低电平以在通电时完成复位的持续时间	10			µs
t_{_RH_READY}	器件准备好接受 RAP 和 I2C 请求以及 eUSB2 接口在 RESETB 置为无效或（VDD1V8 和 VDD3V3）达到建议的最低电压（以较晚者为准）后准备就绪的时间			3	ms
t_{_RS_READY}	器件准备好接受 RAP 和 I2C 请求以及通过 I2C 进行软复位后 eUSB2 接口准备就绪的时间			350	µs
中继器时序
T_J1E	当两个中继器中的一个禁用时，eUSB2 至 USB 2.0 的总附加抖动（输出抖动 - 输入抖动）。（还必须包含所有完整的 SOP 位并使用 eUSB2 TX 上升/下降时间偏差和对内传播延迟偏差进行测量，请参阅 V_{CM_RX_AC}）[RX EQ 禁用，TX PE 禁用，VOD 标称设置且无输入或输出通道]。出口设置图		25	42	ps
T_J1I	当两个中继器中的一个禁用时，USB 至 eUSB2 的总附加抖动（输出抖动 - 输入抖动）。[RX EQ 禁用，TX PE 禁用，VOD 标称设置且无输入或输出通道]。入口设置图		25	42	ps
T_J2E	当两个中继器都处于活动状态时，eUSB2 至 USB 的总附加抖动（输出抖动 - 输入抖动）。[RX EQ 禁用，TX PE 禁用，VOD 标称设置且无输入或输出通道]			60	ps
T_J2I	当两个中继器都处于活动状态时，USB 至 eUSB2 的总附加抖动（输出抖动 - 输入抖动）。[RX EQ 禁用，TX PE 禁用，VOD 标称设置且无输入或输出通道]			60	ps
T_{e_to_U_DJ1}	eUSB2 至 USB 2.0 中继器 FS 抖动至下一次转换（根据针对电源和 GND 差值的 eUSB2 规格 1.1 表 7-13 注释 1 和 2 条件⁽¹⁾）	-6.0		+6.0	ns
T_{U_to_e_DJ1}	USB 2.0 至 eUSB2 中继器 FS 抖动至下一次转换（根据针对电源和 GND 差值的 eUSB2 规格 1.1 表 7-13 注释 1 和 2 条件⁽¹⁾）	-3.0		+3.0	ns
T_{DJ2_e2U}	eUSB2 至 USB 2.0 方向的中继器 FS 配对转换抖动（相对于 USB 2.0 +/- 1ns 定义的 THDJ2 而言已放宽）	-1.5		+1.5	ns
T_{DJ2_U2e}	USB 2.0 至 eUSB2 方向的中继器 FS 配对转换抖动（相对于 USB 2.0 +/- 1ns 定义的 THDJ2 而言已放宽）	-1.5		+1.5	ns
模式时序
T_{MODE_SWITCH}	从 UART 旁路模式更改为 USB 模式或反向更改所需的时间			1	µs
T_{UART_START}	进入 UART 旁路模式后开始传输 UART 数据所需的时间			2	ms
I2C (FM+)
t_{SU_STA}	开始建立时间，SCL（T_r=72ns 至 120ns），SDA（T_f=6.5ns 至 81.5ns），1MHz FM+	260			ns
t_{SU_STO}	停止建立时间，SCL（T_r = 72ns 至 120ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 81.5ns），1MHz FM+	260			ns
t_{HD_STA}	开始保持时间，SCL（T_r = 72ns 至 120ns），SDA（T_f= 6.5ns 至 81.5ns），1MHz FM+	260			ns
t_{SU_DAT}	数据输入或错误开始/停止，建立时间，SCL（T_r = 72ns 至 120ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 81.5ns），1MHz FM+	50			ns
t_{HD_DAT}	数据输入或错误开始/停止，保持时间，SCL（T_r = 72ns 至 120ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 81.5ns），1MHz FM+	0			ns
t_{VD_DAT}，t_{VD_ACK}	SDA 输出延迟，SCL（T_r = 72ns 至 120ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 81.5ns），1MHz FM+	20		450	ns
t_{HD_DAT_SL}	器件传输数据时的数据保持时间	6.67			ns
t_SP	抑制干扰宽度	50		91	ns
t_BUF	STOP 和 START 条件之间的总线空闲时间（器件必须承受的主机最小规格）	0.5			µs
t_LOW	SCL 时钟的低电平周期（器件必须承受的主机最小规格）	0.5			µs
t_HIGH	SCL 时钟的高电平周期（器件必须承受的主机最小规格）	0.26			µs
I2C (FM)
t_{SU_STO}	停止建立时间，SCL（T_r = 180ns 至 300ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），400kHz FM	600			ns
t_{HD_STA}	开始保持时间，SCL（Tr = 180ns 至 300ns），SDA（Tf = 6.5ns 至 106.5ns），400kHz FM	600			ns
t_{SU_STA}	开始建立时间，SCL（T_r = 180ns 至 300ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），400kHz FM	600			ns
t_{SU_DAT}	数据输入或错误开始/停止，建立时间，SCL（T_r = 180ns 至 300ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），400kHz FM	100			ns
t_{HD_DAT}	数据输入或错误开始/停止，保持时间，SCL（T_r = 180ns 至 300ns），SDA（T_f= 6.5ns 至 106.5ns），400kHz FM	0			ns
t_{VD_DAT}，t_{VD_ACK}	SDA 输出延迟，SCL（T_r = 180ns 至 300ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），400kHz FM	20		900	ns
t_{HD_DAT_SL}	器件传输数据时的数据保持时间	13.5			ns
t_SP	抑制干扰宽度	50		91	ns
t_BUF	STOP 和 START 条件之间的总线空闲时间（器件必须承受的主机最小规格）	1.3			µs
t_LOW	SCL 时钟的低电平周期（器件必须承受的主机最小规格）	1.3			µs
t_HIGH	SCL 时钟的高电平周期（器件必须承受的主机最小规格）	0.6			µs
I2C (STD)
t_{SU_STO}	停止建立时间，SCL（T_r = 600ns 至 1000ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），100kHz STD	4			µs
t_{HD_STA}	开始保持时间，SCL（Tr = 600ns 至 1000ns），SDA（Tf = 6.5ns 至 106.5ns），100kHz STD	4			µs
t_{SU_STA}	开始建立时间，SCL（T_r = 600ns 至 1000ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），100kHz STD	4.7			µs
t_{SU_DAT}	数据输入或错误开始/停止，建立时间，SCL（T_r = 600ns 至 1000ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），100kHz STD	250			ns
t_{HD_DAT}	数据输入或错误开始/停止，保持时间，SCL（T_r = 600ns 至 1000ns），SDA（T_f= 6.5ns 至 106.5ns），100kHz STD	5			µs
t_{VD_DAT}，t_{VD_ACK}	SDA 输出延迟，SCL（T_r = 600ns 至 1000ns），SDA（T_f = 6.5ns 至 106.5ns），100kHz STD			3.45	µs
t_{HD_DAT_SL}	器件传输数据时的数据保持时间	13.5			ns
t_SP	抑制干扰宽度	50		91	ns
t_BUF	STOP 和 START 条件之间的总线空闲时间（器件必须承受的主机最小规格）	4.7			µs
t_LOW	SCL 时钟的低电平周期（器件必须承受的主机最小规格）	4.7			µs
t_HIGH	SCL 时钟的高电平周期（器件必须承受的主机最小规格）	4.0			µs

(1) USB Implementers Forum (2018)。USB 修订版 2.0 规范的嵌入式 USB2 (eUSB2) 物理层补充，修订版 1.2，USB Implementers Forum