ZHCS501G November 2011 – July 2024 UCC27211
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
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传播延迟 | ||||||
tDLFF | VLI 下降至 VLO 下降 | CLOAD = 0pF,从 LI 的 VLIT 到 LO 下降的 90% | 10 | 19 | 30 | ns |
tDHFF | VHI 下降至 VHO 下降 | CLOAD = 0pF,从 HI 的 VLIT 到 HO 下降的 90% | 10 | 19 | 30 | ns |
tDLRR | VLI 上升至 VLO 上升 | CLOAD = 0pF,从 LI 的 VHIT 到 LO 上升的 10% | 10 | 20 | 40 | ns |
tDHRR | VHI 上升至 VHO 上升 | CLOAD = 0pF,CLOAD = 0pF,从 HI 的 VHIT 到 HO 上升的 10% | 10 | 20 | 40 | ns |
延迟匹配 | ||||||
tMON | LI 开启,HI 关闭 | TJ = 25°C | 4 | 9.5 | ns | |
tMON | LI 开启,HI 关闭 | TJ = -40°C 至 150°C | 4 | 17 | ns | |
tMOFF | LI 关闭,HI 打开 | TJ = 25°C | 4 | 9.5 | ns | |
tMOFF | LI 关闭,HI 打开 | TJ = -40°C 至 150°C | 4 | 17 | ns | |
输出上升和下降时间 | ||||||
tR_LO | LO 上升时间 | CLOAD = 1000pF,从 10% 到 90% | 7.2 | ns | ||
tR_HO | HO 上升时间 | CLOAD = 1000pF,从 10% 到 90% | 7.2 | ns | ||
tF_LO | LO 下降时间 | CLOAD = 1000pF,从 10% 到 90% | 5.5 | ns | ||
tF_HO | HO 下降时间 | CLOAD = 1000pF,从 10% 到 90% | 5.5 | ns | ||
tR_LO_p1 | LO 上升时间(3V 至 9V) | CLOAD = 0.1μF(3V 至 9V) | 0.27 | 0.6 | μs | |
tR_HO_p1 | HO 上升时间(3V 至 9V) | CLOAD = 0.1μF(3V 至 9V) | 0.27 | 0.6 | μs | |
tF_LO_p1 | LO 下降时间(9V 至 3V) | CLOAD = 0.1μF(9V 至 3V) | 0.16 | 0.4 | μs | |
tF_HO_p1 | HO 下降时间(9V 至 3V) | CLOAD = 0.1μF(9V 至 3V) | 0.16 | 0.4 | μs | |
其他 | ||||||
tIN_PW | 可改变输出 LO 的最小输入脉冲宽度 | 40 | ns | |||
tIN_PW | 可改变输出 HO 的最小输入脉冲宽度 | 40 | ns | |||
tOFF_BSD | 自举二极管关断时间(1)(2) | IF = 20mA,IREV = 0.5A(3) | 20 | ns |