ZHCSAO4F December   2012  – March 2018 UCC27611

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特性
  2. 2 应用
  3. 3 说明
    1.     Device Images
      1.      典型应用图
  4. 4 修订历史记录
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 VDD and Undervoltage Lockout
      2. 7.3.2 Operating Supply Current
      3. 7.3.3 Input Stage
      4. 7.3.4 Enable Function
      5. 7.3.5 Output Stage
      6. 7.3.6 Low Propagation Delays
    4. 7.4 Device Functional Modes
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Gate Drive Supply Voltage
        2. 8.2.2.2 Input Configuration
        3. 8.2.2.3 Output Configuration
        4. 8.2.2.4 Power Dissipation
        5. 8.2.2.5 Thermal Considerations
      3. 8.2.3 Application Curves
  9. 9 Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  11. 11器件和文档支持
    1. 11.1 文档支持
      1. 11.1.1 相关文档
    2. 11.2 接收文档更新通知
    3. 11.3 社区资源
    4. 11.4 商标
    5. 11.5 静电放电警告
    6. 11.6 Glossary
  12. 12机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.4 Thermal Information

THERMAL METRIC(1) UCC27611 UNIT
DRV (SON)
6 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 80.3 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 11.9 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 49.7 °C/W
ψJT Junction-to-top characterization parameter 5.5 °C/W
ψJB Junction-to-board characterization parameter 50.1 °C/W
RθJC(bot) Junction-to-case (bottom) thermal resistance 18.8 °C/W
(1) For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.
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