6.1 使用 7.5 mm 镀层时的计数和变化百分比分析，建议 = 较差

由于电容式触控感应流程涉及到电容随时间的变化，因此电容式触控软件必须维持一个代表非触控电容的参考值。此参考值是一个缓慢变化的平均值，被称为长期平均值 (long-term average, LTA)。每个新样本都会与这个变化的平均值进行比较，以确定是否存在触摸。Figure 10 显示了当发生触摸并随即解除触摸时，具有 7.5 mm 镀层的测试硬件的计数和长期平均值。请注意，计数值（转换结果）会从大约 1410 的长期平均值降至大约 1264（大约 146 个计数的变化）。这次的特殊测量中还存在一些噪声。

Figure 10. 使用 7.5 mm 镀层时的计数分析

要为此数据集确定信号“S”和噪声“N”参数，必须将计数和 LTA 值转换为电容变化百分比形式。之所以需要这样做，是因为 CapTIvate 模拟前端具有可编程的偏移功能，能够放大电容的细微变化。由触摸导致计数从 1410 变为 1264 意味着计数发生了 -10% 的变化。但这一变化并不是电容的变化。计数的变化看起来大于电容的变化，这是因为在转换时应用了偏移，以去除电极的部分寄生电容 (C_p) 的影响。Equation 9 显示了计数与变化百分比之间的关系。

在这个公式中，Conversion_Gain 参数值取自于 CapTIvate 设计中心，LTA 和计数取自于数据集。通过对上一个示例中的 LTA 和计数值应用此公式，得出了Figure 11 中的结果。

示例：电容的信号变化百分比 = [(100/1264) - (100/1410)] × 100% = 0.82%。请注意，计数减少表示电容增大，因此触摸所导致的变化方向会出现反转。

Figure 11. 使用 7.5 mm 镀层时的变化百分比分析

Figure 11 中应用了Equation 9，明确说明了电极的电容如何随着触摸而变化。在此图中可以看出，触摸导致电容发生了 0.82% 的平均变化。还应注意，在该示例中，触摸方向的噪声水平高达 0.12%。这两个值分别提供了信号“S”和噪声“N”。现在可以为该示例计算 SNR。

得出了“S”、”N”和 SNR 之后，现在可以设置检测阈值并分析设计裕度。设计裕度可提供比 SNR 更丰富的电容式触控 应用信息，因为它表明最高噪声水平与检测阈值之间的裕度。这样就可以深入了解虚假检测风险。除了 SNR 以外还需要考虑这一因素的原因是，如果由于某种原因将检测阈值设置为一个小于正常值的值，则 SNR 不会变化，但虚假检测风险会发生变化（因为本底噪声与检测阈值之间的差异变得更小了）。

Figure 11 表明阈值 (Th) = 0.5%。根据Table 4，0°C 工作温度下的最小建议阈值是 0.9%。这意味着如果将该示例设计为在低至 0°C 的温度下运行，则 SNR 分析工具会给出“较差”的建议。

Equation 11 计算了该示例中的 Min。在该示例中，0.38% 的 Min 也低于Table 4 中所示的最小建议裕度（输入）0.83%。这意味着如果将该示例设计为在低至 0°C 的温度下运行，则 SNR 分析工具会给出“较差”的建议。

Equation 12 计算了计数。这是触摸期间的最低变化百分比与检测阈值之间的差异。