摘要

诸如国际电工委员会 (IEC) 61508⁽¹⁾ 和国际标准化组织 (ISO) 26262⁽²⁾ 之类的功能安全标准要求半导体器件制造商同时解决系统性和随机硬件故障。通过采用下面的严格开发流程，可管理和减少系统故障。为了满足硬件安全完整性等级 (SIL) 或汽车 SIL (ASIL) 要求，随机硬件故障必须遵循特定的量化指标。因此，在计算随机硬件故障指标时会排除系统故障。