8 瞬态故障的特殊注意事项

在 BFR 估算中必须考虑到由辐射事件（内部或外部）导致的软错误，这些软错误会导致随机硬件故障。但是，由电磁干扰或串扰引起的软错误不应包括在 BFR 计算中，因为它们被归类为系统故障，可通过遵循良好的设计规范来管理。可通过以下属性来调制瞬态故障：

• 使用的方法
• 故障的影响和适用情形
• 封装中的标准和低阿尔法与超低阿尔法模塑化合物

架构易受损因子 (AVF) 反映的是设计结构中软错误引起的故障概率，将会导致功能的最终输出中出现可见错误。根据 ISO 26262，不应基于 AVF 或诸如错误检测和纠正 (EDAC) 电路等安全机制来降低软错误的 BFR。因此，最好分别为半导体元件中的随机存取存储器和逻辑块计算软错误的 BFR。