ZHCAAD2A July 2015 – October 2020 CD14538B , CD14538B-MIL , CD4047B , CD4047B-MIL , CD4098B , CD4098B-MIL , CD54HC123 , CD54HC221 , CD54HC4538 , CD54HCT123 , CD54HCT4538 , CD74HC123 , CD74HC221 , CD74HC423 , CD74HC4538 , CD74HC4538-Q1 , CD74HCT123 , CD74HCT221 , CD74HCT423 , CD74HCT4538 , SN54121 , SN54123 , SN54221 , SN54AHC123A , SN54AHCT123A , SN54LS123 , SN54LS123-SP , SN54LS221 , SN74121 , SN74221 , SN74AHC123A , SN74AHC123A-EP , SN74AHCT123A , SN74LS122 , SN74LS123 , SN74LS221 , SN74LS423 , SN74LV123A , SN74LV123A-EP , SN74LV123A-Q1 , SN74LV221A , SN74LV221A-Q1 , SN74LVC1G123
SN74LVC1G123 具有出色的温度稳定性特征。下图展示了脉冲长度随温度变化的情况。为了仅测试半导体器件引起的变化,外部电阻器和电容器没有暴露在相同温度下。由于测试环境的原因,电路板在接近冰点的温度下结霜,因此只使用了 10°C 以上的数据。脉冲长度随电源电压变化很大(如数据表上的 VCC 与 K 关系图所示),因此每个图上都显示了最小和最大推荐电源值。