2 支持校准和监控的硬件基础设施

TI 毫米波器件中的校准和监控机制是使用硬件和固件的组合来实现的。此处展示了一些实现这些机制的硬件基础设施块。

多个 TX、RX RF 和 IFA 参数测量由耦合到 TX PA 输出和 RX LNA 输入的毫米波功率检测器以及器件中的 TX-RX RF 和 RX IF 环回结构提供支持，如#T5362076-53 所示。

图 2-1 芯片上 TX-RX 测试信号环回架构：TX 监控、RX 监控、RX 基带监控

例如，通过使用位于 Tx 功率放大器输出端口的功率检测器测量内部 Tx 功率来启用 Tx 输出功率校准。使用内部通用 ADC 读取功率检测器的电压电平。这些 ADC 还用于在 VCO 和 APLL 校准期间测量其他内部电压电平，例如 PLL 控制电压。

某些校准（例如 RX IF 滤波器校准）使用内部 IF 环回结构。馈送不同 IF 频率的环回信号，分析 IF 频率响应，并进行适当的电阻器和电容器组调整，以实现所需的截止频率。其他校准（例如 Rx 增益校准）使用内部 RF 环路结构将已知幅度的信号电平从 TX 链馈送到 Rx 链。通过处理 ADC 数据幅度来分析 Rx 增益，并相应地设置 Rx 链偏置以校准增益。

在其他一些校准中，在固件中根据测量的温度和调整后的模拟偏置设置评估固定查找表（LUT，源自标称设计仿真）。

在 AWR294x 中，RX 增益校准使用 RF 环回结构将已知的信号电平幅度从合成器馈送到 Rx 链。没有可用的移相器环回。AWR294x 中的环回结构如#GUID-B7FF9702-C7DC-45A9-A0D8-8F72040DD7A2 所示。

图 2-2 AWR2944 芯片上 TX-RX 测试信号环回架构：TX 监控、RX 监控、RX 基带监控