ZHCAAJ9B November 2018 – March 2021 SN74AVC4T774 , SN74AXC1T45 , SN74AXC4T245 , SN74AXC4T774 , SN74AXC8T245 , SN74AXC8T245-Q1 , SN74AXCH1T45 , SN74AXCH4T245 , SN74AXCH8T245
联合测试行动组 (JTAG) 开发了同名的硬件接口 (JTAG),用于对嵌入式设计进行调试、测试、验证和编程。JTAG 在运行过程中通常使用五个线路:TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST,如表 2-2 所示。测试时钟 (TCK) 提供数据输入和输出的时序。测试模式选择 (TMS) 允许用户选择将要测试的内容。测试数据输入 (TDI) 将要测试的数据输入到被测器件,产生的结果在测试数据输出 (TDO) 上输出。最后一个信号是测试复位 (TEST),作为一个可选信号,它能够将 JTAG 复位到最后一次已知的良好状态。
信号 | 说明 | 方向 |
---|---|---|
TCK | 测试时钟信号 | 控制器到调试器 |
TDI | 测试数据输入 | 控制器到调试器 |
TDO | 测试数据输出 | 调试器到控制器 |
TMS | 测试模式选择 | 控制器到调试器 |
TRST | 测试复位 | 控制器到调试器 |
JTAG 与 SPI 类似,因此电压转换器的配置也类似。主要区别在于 JTAG 有四条线路在一个方向上运行,而另一条线路在相反方向上运行。要在低电压 FPGA 或处理器与 JTAG 探头之间启用 JTAG 接口,建议使用 SN74AXC4T774 或 SN74AVC4T774 器件,并采用如图 2-10 所示的配置。或者,对于五线制 JTAG 接口,可使用一个用于 TCK、TMS、TDI 和 TRST 信号线路的 SN74AXC4T245 和一个用于在另一个方向上运行的 TDO 线路的 SN74AXC1T45。