以下代码可用于为 CC26X2 和 CC13X2 器件测量高频晶体的近似导通时间。这项功能的工作原理是计算从启用高频时钟到高频时钟符合要求之间的低频时钟沿数量。若要获得更加精确的结果，需要使用外部测量设备。

uint32_t OSCHF_DebugGetCrystalStartupTime( void )
{
   uint32_t lfEdgesFound = 0 ;
   // Start operation in sync with the LF clock
   HWREG( AON_RTC_BASE + AON_RTC_O_SYNCLF );
   OSCHF_TurnOnXosc();
   while ( ! OSCHF_AttemptToSwitchToXosc() ) {
      HWREG( AON_RTC_BASE + AON_RTC_O_SYNCLF );
      lfEdgesFound ++ ;
   }
   OSCHF_SwitchToRcOscTurnOffXosc();
   return ( lfEdgesFound );
}

对于 CC26XX 和 CC13XX，以及 CC26X2 和 CC13X2 器件，也可以使用 OSCHF_DebugGetCrystalStartupTime() 的内置 driverlib 实现来测量晶体启动时间。