ZHCAAS6 March   2021 REF3425 , REF4132 , REF5010 , REF5020 , REF5025 , REF5040 , REF5050 , REF70

 

  1.   基准电压的长期漂移
  2.   商标
  3. 1长期漂移
  4. 2长期漂移数据表测量
  5. 3长期漂移误差
  6. 4封装和复合模应力
  7. 5测试设置
  8. 6温度影响
  9. 7长期漂移估算
  10. 8最小化LTD 影响的方法
  11. 9参考资料

长期漂移数据表测量

电压基准的长期漂移 (LTD) 以定量的方式洞察其长时间内的输出行为。长期漂移公式显示了通常如何在数据表电气特性表中定义长期漂移。

Equation1. GUID-20200827-CA0I-JXPJ-CMB3-CNWZHDGW1PMN-low.gif

其中:

  • VOUTt0 = 测量开始时的输出电压。该测量是在焊接后立即完成的。
  • VOUTtn = 第 n 小时的输出电压

在此测量期间,基准通电 n 小时。

然后,根据测试时间和测量时间将结果值记录在数据表中图 2-1。。LTD 未经生产测试,因此指定的值是典型值,会因设备而异。在数据表的典型特性图中可以找到变化的例子。该表显示了 DBV 封装在同一连续测试中两个时间范围(即第一个 1000 小时和下一个 1000 小时,总共 2000 小时)内的两个 LTD 值。

GUID-20210115-CA0I-8X45-NTKS-1FWVNNHNTH0Q-low.gif图 2-1 REF34-Q1 的长期漂移数据表表格示例

电气特性表中的 LTD 规格可用于计算一般误差,但数据表中的图形显示了随时间变化的实际趋势。图表说明,漂移在单元与单元之间的值或方向都不一致,但一般来说,漂移随着时间的推移而减慢。LTD 主要来自机械应力和老化,因此随着封装、焊接和芯片材料越来越稳定,漂移也越来越缓慢。