ZHCAB34 January   2021 CC3200 , CC3220R , CC3220S , CC3220SF , CC3230S , CC3230SF , CC3235S , CC3235SF

 

  1.   商标
  2. 1引言
    1. 1.1 SAR ADC 架构的基础知识
    2. 1.2 CC32XX ADC 简介
      1. 1.2.1 主要特性
      2. 1.2.2 ADC 采样操作
      3. 1.2.3 ADC 其他信息
  3. 2ADC 应用示例
    1. 2.1 电池电压测量
      1. 2.1.1 重要考虑
        1. 2.1.1.1 额外电流消耗
        2. 2.1.1.2 压降校正
        3. 2.1.1.3 失调电压调节
        4. 2.1.1.4 最小二乘拟合
        5. 2.1.1.5 选择电容器(用于压降校正)
        6. 2.1.1.6 首次测量
        7. 2.1.1.7 每次测量之间的时间间隔
  4. 3交流测量
  5. 4有用的参考文献
    1. 4.1 智能恒温器
    2. 4.2 使用 Winsen MP503 模拟传感器测量空气质量
    3. 4.3 使用 HMI 通过电阻式触摸屏进行触摸位置检测
  6. 5参考文献

压降校正

请注意,内部 ADC 持续运行,如果 ADC 连接到外部引脚,则将从外部电容器汲取连续电流。这将导致外部电容器随时间降低电压。每个样本都会导致在外部电容器 Cext 和内部 Cin 之间重新分布电荷,进而引起 Cext 放电。这将导致测量误差。

因此,对于直流测量,应在测量完成后立即断开 ADC 引脚以允许 Cext 恢复。这可以通过调用 API (ADCChannelEnable() / Disable()) 或将 pix-mux 更改为 GPIO 来完成。上图显示了使用 ADC 引脚 58 的示例测量。如以上各节所述,这些电阻器与 0.1μF 电容器搭配使用。

假设 Cext 完全充电到 V1 = R2/(R1+R2) x Vcc,每个样本从 Cext 汲取大约 Q = Cin x V1 电荷。假设采集了 N 个样本,Cext 将失去 NxCin x V1 电荷。Cext 的压降可以通过Equation1 中所示的公式计算得出:

Equation1. GUID-20201021-CA0I-6PRG-CTZS-XPHTJBNLWRSN-low.gif

在本例中,通过采集 128 个样本,Cext 电容器将使电压下降约 20mV。

如果在测量中使用简单的平均函数,测量误差将为 Vdrop/2 = 10mV。虽然这对于大多数应用来说是可以接受的,但可以通过使用以下各节中显示的方法进一步改进。