不平衡测量应使用 AWR 器件在多个不同的校准设置下完成，并针对各种工作温度进行优化。为了降低现场温漂，必须根据工作温度重新配置模拟设置。TI 建议在工厂以三种配置（温度指数/指标）执行失调测量：

• 低偏置设置 – 即针对 –40°C 至 10°C 等低温优化的 RF 设置
• 中偏置设置 – 即针对 0°C 至 50°C（大致为工厂校准温度）等中温优化的 RF 设置
• 高偏置设置 – 即针对 40°C 至 140°C 等高温优化的 RF 设置

环境温度仍相同，而仅根据其他温度设置来改变器件的模拟配置。客户可以根据传感器预计的现场温度范围来固定对应于低偏置、中偏置和高偏置设置的温度范围，并允许存在较小的转换重叠。

测量步骤如下文所示。

1. 发出配置文件、线性调频脉冲和帧配置 API 来设定所需的线性调频脉冲序列，包括 RX 增益、TX 功率和射频频率等。
2. 在 0° TX 相移条件下执行这些测量，以避免 TX 相移非线性效应。
3. 以迭代方式设定低偏置、中偏置和高偏置对应的 TX 增益代码、RX 增益代码（以及 AWR2243 的 LO DIST 代码）以及温度指数。表 3-1 展示了一个采用建议温度指标的示例。下文介绍了为 TI 毫米波 MMIC 设定各代码以及所需温度指标的建议步骤。
   • 对于 AWR1243、AWR1843、AWR1642：
     1. 使用 AWR RX GAIN TEMPLUT GET SB API 和 AWR TX GAIN TEMPLUT GET SB API 来获取各器件的自校准算法在此增益、功率和视频条件下的结果。输出为 LUT，它是温度的函数（分辨率为 10°C）。
     2. 根据上述 API 的结果，选择低偏置、中偏置或高偏置设置的 RX 和 TX 增益代码。
     3. 使用 AWR RX GAIN TEMPLUT SET SB API 和 AWR TX GAIN TEMPLUT SET SB API 来为每个级联的 AWR 器件设定所需的模拟设置（每个器件都具有其各自的值）。
   • 对于 AWR2243：
     1. 在为 TX、RX 和 LODIST 启用温度指数覆盖的情况下，使用 AWR RUN TIME CALIBRATION CONF AND TRIGGER SB，以及低偏置、中偏置或高偏置设置对应的温度指标。
4. 使用 0° 方向的角反射来估算所有 TX_m-RX_n 组合条件下的通道间不平衡。测量每种偏置设置（低偏置、中偏置、高偏置）条件下的该值。表 3-2 展示了一个双芯片级联系统中不平衡数据的示例结构。
5. 将每个指数（低偏置、中偏置、高偏置）的不平衡数据保存在传感器的非易失性存储器中，以供现场使用。

1. 在该条件下，RX 增益会在各个温度范围内随温度发生漂移，但不会对噪声系数和 P1dB 带来不利影响。
2. 上述示例假定工厂测试期间器件温度为 25°C。如果器件温度明显更高，可以考虑进行适当的调整；另外，如果应用需要不同的工作温度范围，也可以进行适当的调整。
3. 可从 RF INIT 校准状态报告 (AWR_AE_RF_INITCALIBSTATUS_SB) 或使用器件的温度监测 API 来获取器件温度。
4. 各设置之间的转换温度不应与工厂校准温度相差过大。这样可以确保低偏置和高偏置条件下校准更加准确。